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碳化硅含量檢測(cè)機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T 34520.9-2021
連續(xù)碳化硅纖維測(cè)試方法 第9部分：碳含量
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-05-21
- 【CCS分類】V13航空與航天用非金屬材料
- 【ICS分類】49.020航空器和航天器綜合
GB/T 34520.9-2021
連續(xù)碳化硅纖維測(cè)試方法 第8部分：氧含量
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-08-20
- 【CCS分類】V13航空與航天用非金屬材料
- 【ICS分類】49.020航空器和航天器綜合
GB/T 34520.9-2021
石墨中碳化硅含量的測(cè)定方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JC行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材
- 【發(fā)布日期】2023-12-20
- 【CCS分類】Q51石墨材料
- 【ICS分類】73.080非金屬礦
GB/T 34520.9-2021
碳化硅單晶拋光片微管密度無(wú)損檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2014-12-31
- 【CCS分類】H26金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法
- 【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗(yàn)方法
GB/T 34520.9-2021
出口碳化硅分析方法 碳化硅含量的測(cè)定
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-SN行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)
- 【發(fā)布日期】1993-11-05
- 【CCS分類】J43磨料與磨具
- 【ICS分類】81.080耐火材料
GB/T 34520.9-2021
碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質(zhì)含量的測(cè)定 二次離子質(zhì)譜法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-12-31
- 【CCS分類】H17半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法
- 【ICS分類】77.040金屬材料試驗(yàn)
GB/T 34520.9-2021
金剛砂 碳化硅含量的測(cè)定 氫氟酸重量法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金
- 【發(fā)布日期】2017-04-12
- 【CCS分類】D52冶金輔助原料礦
- 【ICS分類】73.080非金屬礦
GB/T 34520.9-2021
碳化硅單晶中痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YS行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬
- 【發(fā)布日期】2023-04-21
- 【CCS分類】H17半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法
- 【ICS分類】77.040.30金屬材料化學(xué)分析
GB/T 34520.9-2021
碳化硅陶瓷制品 工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)檢測(cè)
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JC行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材
- 【發(fā)布日期】2022-09-30
- 【CCS分類】Q32特種陶瓷
- 【ICS分類】81.060.20陶瓷制品
GB/T 34520.9-2021
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第2部分：缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 34520.9-2021
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第1部分：缺陷分類
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 34520.9-2021
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第3部分：缺陷的光致發(fā)光檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 34520.9-2021
碳化硅晶片位錯(cuò)密度檢測(cè)方法 KOH腐蝕結(jié)合圖像識(shí)別法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-11-01
- 【CCS分類】H20/29金屬理化性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】01.040詞匯
GB/T 34520.9-2021
碳化硅晶片表面金屬元素含量的測(cè)定電感耦合等離子體質(zhì)譜法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-06-19
- 【CCS分類】金屬理化性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】半導(dǎo)體材料
GB/T 34520.9-2021
碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量和微管密度檢測(cè)方法-激光散射檢測(cè)法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2019-12-27
- 【CCS分類】H20/29工業(yè)技術(shù)玻璃
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體器分立件綜合
GB/T 34520.9-2021
半絕緣碳化硅材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2019-11-25
- 【CCS分類】Q34
- 【ICS分類】31.080.01其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 34520.9-2021
半導(dǎo)體器件.功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片中缺陷的無(wú)損識(shí)別標(biāo)準(zhǔn).第3部分:用光致發(fā)光法檢測(cè)缺陷的試驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2020-07-13
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.99
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，無(wú)論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測(cè)試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問(wèn)或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問(wèn)，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（碳化硅含量檢測(cè)機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
