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硅 檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2024-12-08     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

GB/T 26066-2010

硅晶片上淺腐蝕坑檢測(cè)的測(cè)試方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2011-01-10
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料

GB/T 26066-2010

法語(yǔ)CTP 檢驗(yàn)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)要求驗(yàn)收規(guī)范

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
  • 【ICS分類】集成電路、微電子學(xué)

GB/T 26066-2010

硅基MEMS制造技術(shù) 微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2012-05-11
  • 【CCS分類】L55微電路綜合
  • 【ICS分類】31.200半導(dǎo)體材料

GB/T 26066-2010

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2020-06-02
  • 【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】半導(dǎo)體材料

GB/T 26066-2010

太陽(yáng)能級(jí)多晶硅塊紅外探傷檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB65新疆維吾爾自治區(qū)地方標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2013-10-20
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料

GB/T 26066-2010

重?fù)絥型硅襯底中硼沾污的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045有關(guān)土質(zhì)的其他標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 26066-2010

硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045土壤的化學(xué)特性

GB/T 26066-2010

土壤檢測(cè) 第15部分:土壤有效硅的測(cè)定

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-NY行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)
  • 【發(fā)布日期】2006-07-10
  • 【CCS分類】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分類】13.080.99非金屬礦

GB/T 26066-2010

土壤檢測(cè)方法 有效態(tài)元素的測(cè)定 第9部分:有效硅含量的測(cè)定

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB65新疆維吾爾自治區(qū)地方標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2024-02-23
  • 【CCS分類】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分類】13.080.10金屬材料試驗(yàn)

GB/T 26066-2010

電站現(xiàn)場(chǎng)晶體硅太陽(yáng)能電池組件隱性缺陷檢測(cè)技術(shù)規(guī)范

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB63青海省地方標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2020-04-08
  • 【CCS分類】F23電站、電力系統(tǒng)運(yùn)行檢修
  • 【ICS分類】73.080食品試驗(yàn)和分析的一般方法

GB/T 26066-2010

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2015-10-09
  • 【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】半導(dǎo)體材料

GB/T 26066-2010

硅片流動(dòng)圖形缺陷的檢測(cè) 腐蝕法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
  • 【ICS分類】77.040粘合料、密封材料

GB/T 26066-2010

進(jìn)出口食品中氟硅唑殘留量檢測(cè)方法 氣相色譜-質(zhì)譜法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-SN行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)
  • 【發(fā)布日期】2008-11-18
  • 【CCS分類】X04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】67.050太陽(yáng)能工程

GB/T 26066-2010

硅拋光片表面質(zhì)量目測(cè)檢驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045犯罪行為防范

GB/T 26066-2010

硅酮結(jié)構(gòu)密封膠中烷烴增塑劑檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2015-07-03
  • 【CCS分類】Q24密封材料
  • 【ICS分類】91.100.50其他半導(dǎo)體分立器件

GB/T 26066-2010

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
  • 【ICS分類】金屬材料的其他試驗(yàn)方法

GB/T 26066-2010

晶體硅光伏組件 光熱誘導(dǎo)衰減(LETID)試驗(yàn) 檢測(cè)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】犯罪鑒定技術(shù)
  • 【ICS分類】27.160

GB/T 26066-2010

法庭科學(xué) 硅藻rbcL基因特異片段檢測(cè) 毛細(xì)管電泳熒光檢測(cè)法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GA行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2021-10-14
  • 【CCS分類】A92電子技術(shù)專用材料
  • 【ICS分類】13.310

GB/T 26066-2010

半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第2部分:缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法
  • 【ICS分類】31.080.99

GB/T 26066-2010

碳化硅單晶拋光片微管密度無(wú)損檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2014-12-31
  • 【CCS分類】H26
  • 【ICS分類】77.040.99

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

硅 檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(硅 檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)