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GB/T 31351-2014
GB/T 31351-2014
硅拋光片表面質(zhì)量目測檢驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 31351-2014
金屬拋光表面質(zhì)量檢測及評(píng)判規(guī)則
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-HG行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工
- 【發(fā)布日期】2009-02-05
- 【CCS分類】G90化工機(jī)械與設(shè)備綜合
- 【ICS分類】71.120.01化工設(shè)備綜合
GB/T 31351-2014
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2014-03-27
- 【CCS分類】光電子器件綜合
- 【ICS分類】纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-16部分：檢查和測量 球面拋光套管端面半徑
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-06-29
- 【CCS分類】L50光電子器件綜合
- 【ICS分類】33.180.20纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-30部分：檢查和測量 單套管多芯光纖連接器拋光角度和光纖位置
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-06-29
- 【CCS分類】L50金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】33.180.20化工產(chǎn)品
GB/T 31351-2014
硅拋光片表面質(zhì)量目測檢驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1995-04-18
- 【CCS分類】H21金屬理化性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】71.100半導(dǎo)體材料
GB/T 31351-2014
碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2019-12-27
- 【CCS分類】H20/29稀土金屬及其合金
- 【ICS分類】29.045其他有色金屬及其合金
GB/T 31351-2014
稀土拋光粉
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2012-11-05
- 【CCS分類】H65光電子器件綜合
- 【ICS分類】77.120.99纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第3-17部分:檢查和測量角度拋光型插針的端面角度
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2012-10-12
- 【CCS分類】L50光電子器件綜合
- 【ICS分類】33.180.20纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-47部分：檢查和測量 采用干涉法測量PC/APC球面拋光型插針的端面幾何尺寸
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2023-12-01
- 【CCS分類】L50其他無機(jī)化工原料
- 【ICS分類】33.180.20其他無機(jī)化學(xué)品
GB/T 31351-2014
拋光膏
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-HG行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工
- 【發(fā)布日期】2006-07-26
- 【CCS分類】G14制藥加工機(jī)械與設(shè)備
- 【ICS分類】71.060.99化工設(shè)備
GB/T 31351-2014
膠囊拋光機(jī)
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
- 【發(fā)布日期】2016-04-05
- 【CCS分類】C92磨床
- 【ICS分類】71.120磨床和拋光機(jī)
GB/T 31351-2014
檢查和測量.單套圈多纖維連接器的拋光角度和纖維位置
- 【發(fā)布單位或類別】 US-TIA美國電信工業(yè)協(xié)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2007-03-01
- 【CCS分類】半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】半導(dǎo)體材料
GB/T 31351-2014
拋光機(jī)
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
- 【發(fā)布日期】2007-01-25
- 【CCS分類】J55機(jī)械
- 【ICS分類】25.080.50半導(dǎo)體材料
GB/T 31351-2014
硅拋光回收片
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YS行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬
- 【發(fā)布日期】2014-10-14
- 【CCS分類】H80
- 【ICS分類】29.045其他機(jī)床
GB/T 31351-2014
拋光設(shè)備工藝驗(yàn)證方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-SJ行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
- 【發(fā)布日期】2018-01-18
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
GB/T 31351-2014
拋光硅片中氧化缺陷檢測的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 【發(fā)布日期】1997-06-10
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】29.045
GB/T 31351-2014
激光加工機(jī)床 微結(jié)構(gòu)檢測方法 第4部分：微拋面
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2022-08-02
- 【CCS分類】J
- 【ICS分類】25.080.99
GB/T 31351-2014
光纖互連器件和被動(dòng)元件 - 基本測試和測量程序 - 第3-16部分:檢查和測量 - 球面拋光套管的端面半徑
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2020-12-23
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】33.180.20
我們的優(yōu)勢
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測試經(jīng)驗(yàn)，無論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對于報(bào)告有疑問或者對于試驗(yàn)有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（檢測拋光標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗(yàn)
