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獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。
GB/T 34479-2017
硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2017-10-14
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 26067-2010
硅片切口尺寸測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2011-01-10
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 14140-2009
硅片直徑測量方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 6619-2009
硅片彎曲度測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
YS/T 28-2015
硅片包裝
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YS行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬
- 【發(fā)布日期】2015-04-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 43315-2023
硅片流動(dòng)圖形缺陷的檢測 腐蝕法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-11-27
- 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】77.040金屬材料試驗(yàn)
GB/T 32279-2015
硅片訂貨單格式輸入規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2015-12-10
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 29055-2019
太陽能電池用多晶硅片
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2019-06-04
- 【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 6620-2009
硅片翹曲度非接觸式測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 6618-2009
硅片厚度和總厚度變化測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 42789-2023
硅片表面光澤度的測試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-08-06
- 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】77.040金屬材料試驗(yàn)
GB/T 40279-2021
硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-08-20
- 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】77.040金屬材料試驗(yàn)
HG/T 5962-2021
硅片切割廢液處理處置方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-HG行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工
- 【發(fā)布日期】2021-08-21
- 【CCS分類】Z05污染控制技術(shù)規(guī)范
- 【ICS分類】13.030.20液態(tài)廢物、淤泥
YS/T 26-2016
硅片邊緣輪廓檢驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YS行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬
- 【發(fā)布日期】2016-07-11
- 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】77.040金屬材料試驗(yàn)
GB/T 6617-2009
硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
YB/T 4397-2014
切割硅片用電鍍黃銅鋼絲
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-YB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金
- 【發(fā)布日期】2014-05-06
- 【CCS分類】H49鋼絲、鋼絲繩
- 【ICS分類】77.140.65鋼絲、鋼絲繩和環(huán)節(jié)鏈
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2013-05-09
- 【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
GB/T 11073-2007
硅片徑向電阻率變化的測量方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-09-11
- 【CCS分類】H17半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法
- 【ICS分類】77.040.01金屬材料試驗(yàn)綜合
GB/T 32814-2016
硅基MEMS制造技術(shù) 基于SOI硅片的MEMS工藝規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2016-08-29
- 【CCS分類】L55微電路綜合
- 【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
我們的優(yōu)勢
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測試經(jīng)驗(yàn)，無論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（硅片檢測國家最新檢測標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗(yàn)
