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linux錯(cuò)誤檢測檢測標(biāo)準(zhǔn)
獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。
ITU-T Y.1713
MPLS網(wǎng)絡(luò)的分支錯(cuò)誤檢測
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-ITU國際電信聯(lián)盟
- 【發(fā)布日期】2004-03-15
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】數(shù)據(jù)鏈路層
INCITS TR-43-2008
信息技術(shù).錯(cuò)誤檢測后禁用數(shù)據(jù)傳輸（DDT）
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-INCITS國際信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2008-08-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】數(shù)據(jù)鏈路層
SMPTE RP 165-1994
用于電視位串行數(shù)字接口的錯(cuò)誤檢測校驗(yàn)字和狀態(tài)標(biāo)志
- 【發(fā)布單位或類別】 US-SMPTE美國電影與電視工程師協(xié)會(huì)
- 【發(fā)布日期】1994-01-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】數(shù)據(jù)鏈路層
MIL DESC 5962-88533C
微電路 數(shù)字 CMOS 錯(cuò)誤檢測和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88533A）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1994-04-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
ITU-T X.141
公共數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)中錯(cuò)誤檢測和糾正的一般原則
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-ITU國際電信聯(lián)盟
- 【發(fā)布日期】1988-11-25
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-88613A Notice B-Revision
微電路 數(shù)字CMOS 16位錯(cuò)誤檢測和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88613）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1991-11-25
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-92122B
微電路 數(shù)字 CMOS 32位流經(jīng)錯(cuò)誤檢測和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-92122A）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1993-10-12
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-88613A
微電路 數(shù)字CMOS 16位錯(cuò)誤檢測和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88613）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1990-09-24
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
KS X ISO/IEC 1155-2007
信息處理－利用縱向奇偶校驗(yàn)檢測信息報(bào)文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-06-25
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】35.100.20
MIL DESC 5962-87602A
單片硅雙極16位錯(cuò)誤檢測和校正單元微電路（取代DESC 5962-87602）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1988-07-26
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96711C
微電路 數(shù)字 抗輻射先進(jìn)CMOS 錯(cuò)誤檢測和校正單元 三態(tài)輸出 單片硅（取代DESC 5962-96711）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-06-21
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 06239A
微電路 數(shù)字 抗輻射 先進(jìn)的CMOS 16位并行錯(cuò)誤檢測和校正電路 三態(tài)輸出 單片硅（取代DSCC 06239）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-04-17
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
ISO 1155:1978
信息處理——使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測信息消息中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 【發(fā)布日期】1978-11-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】35.100.20
ISO 1155:1978
信息處理.使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測信息電文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】1978-11-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】35.100.20
MIL DSCC 5962-96721C
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 錯(cuò)誤檢測和校正電路 三態(tài)輸出 TTL兼容輸入 單片硅（取代DESC 5962-96721）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-07-03
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
ITU-R BT.1304
符合ITU-R BT.656和ITU-R BT.799建議的接口中錯(cuò)誤檢測和狀態(tài)信息的校驗(yàn)和
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-ITU國際電信聯(lián)盟
- 【發(fā)布日期】1997-10-24
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
AS 2742-1984
信息處理.使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測信息報(bào)文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類別】 AU-AS澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1984-01-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 06239
微電路 數(shù)字 抗輻射 先進(jìn)的CMOS 16位并行錯(cuò)誤檢測和校正電路 三態(tài)輸出 單片硅（S/S由DSCC 06239A提供）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-12-21
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
AS 1484.3-1973
數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)傳輸使用縱向奇偶校驗(yàn)來檢測信息信息中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類別】 AU-AS澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1973-01-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測試經(jīng)驗(yàn)，無論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（linux錯(cuò)誤檢測檢測標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗(yàn)
