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檢測(cè)cmos壞點(diǎn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
MIL DESC 5962-88533C
微電路 數(shù)字 CMOS 錯(cuò)誤檢測(cè)和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88533A）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1994-04-20
- 【CCS分類】航天用液壓元件與附件
- 【ICS分類】航空航天制造用零部件
MIL DESC 5962-88613A Notice B-Revision
微電路 數(shù)字CMOS 16位錯(cuò)誤檢測(cè)和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88613）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1991-11-25
- 【CCS分類】半導(dǎo)體光敏器件
- 【ICS分類】集成電路、微電子學(xué)
MIL DESC 5962-92122B
微電路 數(shù)字 CMOS 32位流經(jīng)錯(cuò)誤檢測(cè)和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-92122A）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1993-10-12
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-88613A
微電路 數(shù)字CMOS 16位錯(cuò)誤檢測(cè)和校正單元 單片硅（取代DESC 5962-88613）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1990-09-24
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-96599
微電路 數(shù)字 抗輻射CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1995-12-13
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96711C
微電路 數(shù)字 抗輻射先進(jìn)CMOS 錯(cuò)誤檢測(cè)和校正單元 三態(tài)輸出 單片硅（取代DESC 5962-96711）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-06-21
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-92201A
微電路 數(shù)字 高級(jí)CMOS 九位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-92201）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2003-04-17
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 06239A
微電路 數(shù)字 抗輻射 先進(jìn)的CMOS 16位并行錯(cuò)誤檢測(cè)和校正電路 三態(tài)輸出 單片硅（取代DSCC 06239）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-04-17
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96582B
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-96582）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-03-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96708C
微電路 數(shù)字 抗輻射先進(jìn)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-96708）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-06-14
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96721C
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 錯(cuò)誤檢測(cè)和校正電路 三態(tài)輸出 TTL兼容輸入 單片硅（取代DESC 5962-96721）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-07-03
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DSCC 5962-96583B
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 TTL兼容輸入 單片硅（取代DESC 5962-96583）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-03-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-96582
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（S/S由DSCC 5962-96582B提供）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1996-05-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-96583
微電路、數(shù)字、抗輻射、高級(jí)CMOS、9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器、TTL兼容輸入、單片硅（由DSCC 5962-96583B提供）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1996-05-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-92197
微電路 數(shù)字 ADVANCECD CMOS 八進(jìn)制雙向收發(fā)器 帶8位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 三態(tài)輸出 TTL兼容
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1993-04-20
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
GB/T 41033-2021
CMOS集成電路抗輻射加固設(shè)計(jì)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-12-31
- 【CCS分類】V29
- 【ICS分類】49.035
MIL DSCC 06240A
微電路、數(shù)字、高級(jí)CMOS、抗輻射、9位可鎖存收發(fā)器 帶奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 具有非反相三態(tài)輸出、TTL兼容輸入和輸出、單片硅（取代DSCC 06240）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-04-17
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
GB/T 43063-2023
集成電路 CMOS圖像傳感器測(cè)試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-09-07
- 【CCS分類】L54
- 【ICS分類】31.200
MIL DSCC 06239
微電路 數(shù)字 抗輻射 先進(jìn)的CMOS 16位并行錯(cuò)誤檢測(cè)和校正電路 三態(tài)輸出 單片硅（S/S由DSCC 06239A提供）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-12-21
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
MIL DESC 5962-93141
微電路 數(shù)字 高級(jí)CMOS 帶奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器的9位可鎖存收發(fā)器 帶非反相三態(tài)輸出 TTL兼容（由DSCC 5962-93141A提供S/S）
- 【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1993-04-16
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，無論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測(cè)試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
-
售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（檢測(cè)cmos壞點(diǎn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
