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應(yīng)力檢測的檢測標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者：北檢院發(fā)布時(shí)間：2025-01-09 點(diǎn)擊數(shù)：

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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。

GB/T 32073-2015

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2015-10-09
【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
【ICS分類】無損檢測

GB/T 33210-2016

無損檢測殘余應(yīng)力的電磁檢測方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2016-12-13
【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 26140-2023

無損檢測殘余應(yīng)力測量的中子衍射方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2023-05-23
【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 33213-2016

無損檢測基于光纖傳感技術(shù)的應(yīng)力監(jiān)測方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2016-12-13
【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 26140-2010

無損檢測　測量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2011-01-14
【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 13763-2010

【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2011-01-10
【CCS分類】W59其他紡織制品
【ICS分類】無損檢測

20232640-T-469

無損檢測基于逆磁致伸縮效應(yīng)的殘余應(yīng)力檢測方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
【發(fā)布日期】2023-12-28
【CCS分類】半金屬與半導(dǎo)體材料
【ICS分類】19.100無損檢測

20240874-T-469

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第2部分：體波法

【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
【發(fā)布日期】2024-04-25
【CCS分類】有色金屬及其合金產(chǎn)品
【ICS分類】19.100半導(dǎo)體材料

20240870-T-469

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第1部分:臨界折射縱波法

【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
【發(fā)布日期】2024-04-25
【CCS分類】冶金
【ICS分類】19.100半導(dǎo)體材料

T/ZSA 38-2020

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2020-12-17
【CCS分類】H80/84
【ICS分類】29.045金屬材料試驗(yàn)綜合

T/IAWBS 008-2019

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2019-12-27
【CCS分類】H60/69
【ICS分類】29.045無損檢測

T/CSTM 01100-2023

應(yīng)力場磁各向異性檢測儀的性能與檢驗(yàn)

【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2023-12-22
【CCS分類】H
【ICS分類】77.040.01無損檢測

BS ISO 21432:2019

無損檢測用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
【發(fā)布日期】2019-12-13
【CCS分類】
【ICS分類】

KS B ISO 21432-2023

無損檢測用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2023-08-21
【CCS分類】
【ICS分類】19.100

BS EN ISO 21432:2020

無損檢測用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
【發(fā)布日期】2020-11-19
【CCS分類】
【ICS分類】

KS B ISO TS 21432-2017

無損檢測.用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2017-12-29
【CCS分類】
【ICS分類】19.100

UNE-EN 14977:2007

銅和銅合金.拉伸應(yīng)力的檢測.5%氨試驗(yàn)

【發(fā)布單位或類別】 ES-UNE西班牙標(biāo)準(zhǔn)
【發(fā)布日期】2007-03-28
【CCS分類】
【ICS分類】

BS EN 14977:2006

銅和銅合金拉伸應(yīng)力的檢測 5%氨試驗(yàn)

【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
【發(fā)布日期】2006-09-29
【CCS分類】
【ICS分類】

IPC TR-486

互連應(yīng)力測試（IST）與熱應(yīng)力/微切片評(píng)估相關(guān)的循環(huán)研究報(bào)告用于檢測內(nèi)層分離的存在

【發(fā)布單位或類別】 US-IPC美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會(huì)
【發(fā)布日期】2001-07-01
【CCS分類】
【ICS分類】

BS ISO 22290:2020

無損檢測紅外熱像測試熱彈性應(yīng)力測量方法的一般原理

【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
【發(fā)布日期】2020-11-19
【CCS分類】
【ICS分類】

我們的優(yōu)勢

儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測試經(jīng)驗(yàn)，無論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器

測試流程

應(yīng)力檢測的檢測標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（應(yīng)力檢測的檢測標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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熱門關(guān)注

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應(yīng)力檢測的檢測標(biāo)準(zhǔn)

無損檢測殘余應(yīng)力的電磁檢測方法

無損檢測殘余應(yīng)力測量的中子衍射方法

無損檢測基于光纖傳感技術(shù)的應(yīng)力監(jiān)測方法

無損檢測　測量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

無損檢測基于逆磁致伸縮效應(yīng)的殘余應(yīng)力檢測方法

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第2部分：體波法

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第1部分:臨界折射縱波法

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

應(yīng)力場磁各向異性檢測儀的性能與檢驗(yàn)

無損檢測用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測.用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

銅和銅合金.拉伸應(yīng)力的檢測.5%氨試驗(yàn)

銅和銅合金拉伸應(yīng)力的檢測 5%氨試驗(yàn)

互連應(yīng)力測試（IST）與熱應(yīng)力/微切片評(píng)估相關(guān)的循環(huán)研究報(bào)告用于檢測內(nèi)層分離的存在

無損檢測紅外熱像測試熱彈性應(yīng)力測量方法的一般原理

我們的優(yōu)勢

實(shí)驗(yàn)儀器

測試流程

注意事項(xiàng)

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應(yīng)力檢測的檢測標(biāo)準(zhǔn)

無損檢測 殘余應(yīng)力的電磁檢測方法

無損檢測 殘余應(yīng)力測量的中子衍射方法

無損檢測 基于光纖傳感技術(shù)的應(yīng)力監(jiān)測方法

無損檢測 測量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

無損檢測 基于逆磁致伸縮效應(yīng)的殘余應(yīng)力檢測方法

無損檢測 測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法 第2部分：體波法

無損檢測 測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法 第1部分:臨界折射縱波法

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

SiC晶片的殘余應(yīng)力檢測方法

應(yīng)力場磁各向異性檢測儀的性能與檢驗(yàn)

無損檢測 用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測 用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

無損檢測.用中子衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

銅和銅合金.拉伸應(yīng)力的檢測.5%氨試驗(yàn)

銅和銅合金 拉伸應(yīng)力的檢測 5%氨試驗(yàn)

互連應(yīng)力測試（IST）與熱應(yīng)力/微切片評(píng)估相關(guān)的循環(huán)研究報(bào)告 用于檢測內(nèi)層分離的存在

無損檢測 紅外熱像測試 熱彈性應(yīng)力測量方法的一般原理

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無損檢測殘余應(yīng)力的電磁檢測方法

無損檢測殘余應(yīng)力測量的中子衍射方法

無損檢測基于光纖傳感技術(shù)的應(yīng)力監(jiān)測方法

無損檢測　測量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

無損檢測基于逆磁致伸縮效應(yīng)的殘余應(yīng)力檢測方法

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第2部分：體波法

無損檢測測量殘余應(yīng)力的超聲檢測方法第1部分:臨界折射縱波法

無損檢測用中子衍射測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

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互連應(yīng)力測試（IST）與熱應(yīng)力/微切片評(píng)估相關(guān)的循環(huán)研究報(bào)告用于檢測內(nèi)層分離的存在

無損檢測紅外熱像測試熱彈性應(yīng)力測量方法的一般原理