国产精品人妻一区夜夜爱,精品一区二区三区四区五区六区,欧美激情乱人伦,午夜精品久久久久久久久

歡迎您訪問北檢（北京）檢測技術(shù)研究所！
試驗專題 站點地圖 400-635-0567

當(dāng)前位置：首頁 > 檢測項目 > 非標實驗室 > 檢測標準

拋光檢測國家檢測標準

原創(chuàng)發(fā)布者：北檢院    發(fā)布時間：2025-01-25     點擊數(shù)：

獲取試驗方案？獲取試驗報價？獲取試驗周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

GB/T 31351-2014

碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2014-12-31
  • 【CCS分類】H26金屬無損檢驗方法
  • 【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗方法

HG/T 4079-2009

金屬拋光表面質(zhì)量檢測及評判規(guī)則

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-HG行業(yè)標準-化工
  • 【發(fā)布日期】2009-02-05
  • 【CCS分類】G90化工機械與設(shè)備綜合
  • 【ICS分類】71.120.01化工設(shè)備綜合

IEEE/ANSI N42.60-2019

IEEE/ANSI美國國家標準初始響應(yīng)輻射/核檢測培訓(xùn)

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2019-12-12
  • 【CCS分類】金屬理化性能試驗方法
  • 【ICS分類】半導(dǎo)體材料

ASA S3.52-2016

美國聲場中聽力閾值和信號可檢測性測量國家標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASA美國聲協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】2016-01-06
  • 【CCS分類】供應(yīng)與使用關(guān)系
  • 【ICS分類】半導(dǎo)體材料

T/IAWBS 010-2019

碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發(fā)布日期】2019-12-27
  • 【CCS分類】H20/29
  • 【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料

IEEE/ANSI N42.34-2021

美國國家標準放射性核素檢測和識別手持儀器性能標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2021-08-16
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】教育

SAE AS7114A

國家航空航天和國防承包商無損檢測認證計劃要求

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-SAE美國機動車工程師協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】2008-08-07
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

CFR 2021 TITLE40 VOL16 CHAPTER I SUBCHAPTER C PART 63 Subpart WWWWWW

國家有害空氣污染物排放標準:電鍍和拋光操作的面源標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-CFR美國聯(lián)邦法規(guī)匯編
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

UAMA B74.12-2012

磨粒尺寸的美國國家標準規(guī)范.砂輪、拋光和一般工業(yè)用途

  • 【發(fā)布單位或類別】 UNKNOWN其他未分類
  • 【發(fā)布日期】2012-01-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

UAMA B74.12-2009

磨粒尺寸的美國國家標準規(guī)范.砂輪、拋光和一般工業(yè)用途

  • 【發(fā)布單位或類別】 UNKNOWN其他未分類
  • 【發(fā)布日期】2009-10-27
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

IEEE/ANSI N42.34-2003

美國國家標準放射性核素檢測和識別用手持儀器的性能標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2004-01-30
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

BS IEC 62244:2006

輻射防護儀器 安裝輻射監(jiān)測器 用于在國家邊界檢測放射性和特殊核材料

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標準學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2006-07-31
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

ASTM F1727-97

拋光硅片中氧化缺陷檢測的標準實施規(guī)程

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】1997-06-10
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】29.045

IEEE/ANSI N42.12-1980

美國國家標準碘化鈉檢測系統(tǒng)的校準和使用

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】1980-11-21
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

IEEE/ANSI N42.34-2015

美國國家標準放射性核素檢測和識別手持儀器性能標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2016-08-24
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

IEEE/ANSI N42.33-2006

美國國土安全部便攜式輻射檢測儀器國家標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2007-01-22
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

ABMA B3.1:1992

美國滾動軸承國家標準:飛機發(fā)動機、發(fā)動機齒輪箱和附件應(yīng)用渦流檢測

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ABMA美國軸承制造商協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】1992-02-21
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

ASTM F1727-02

拋光硅晶片中氧化誘導(dǎo)缺陷檢測的標準實踐（2003年提出）

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】2002-12-10
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】29.045

IEEE/ANSI N42.33-2003

美國國土安全部便攜式輻射檢測儀器國家標準

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2004-01-30
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

KEMENHAN NO. 31 TAHUN 2011

檢測健康行業(yè)學(xué)習(xí)發(fā)展之外的安全和國家利益部長印度尼西亞國家利益之外的印度尼西亞和NEGERI服務(wù)

  • 【發(fā)布單位或類別】 ID-LEX印尼技術(shù)法規(guī)
  • 【發(fā)布日期】2011-12-14
  • 【CCS分類】A12
  • 【ICS分類】03.180

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

拋光檢測國家檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（拋光檢測國家檢測標準）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標定制試驗方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴格保護客戶隱私
  • 全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗