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自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2025-01-28     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

SJ 21252-2018

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)工藝驗(yàn)證方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-SJ行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
  • 【發(fā)布日期】2018-01-18
  • 【CCS分類】光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】光電子學(xué)、激光設(shè)備

SJ 21251-2018

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)通用規(guī)范

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-SJ行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
  • 【發(fā)布日期】2018-01-18
  • 【CCS分類】光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合

T/SZIEIA 02-2022

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-12-01
  • 【CCS分類】機(jī)械綜合
  • 【ICS分類】31.260光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合

T/ZEIIA 03-2022

OLED自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-03-15
  • 【CCS分類】N30/39石油綜合
  • 【ICS分類】17.180.01半導(dǎo)體材料

T/ZEIIA 04-2022

TFT-LCD自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-03-15
  • 【CCS分類】N30/39基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】17.180.01機(jī)器、裝置、設(shè)備的特性和設(shè)計(jì)

T/CZSBDTHYXH 001-2023

半導(dǎo)體晶圓缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-08-08
  • 【CCS分類】光學(xué)儀器綜合
  • 【ICS分類】29.045光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合

T/GDEIIA 2-2020

車載觸控屏自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)規(guī)范

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2020-05-28
  • 【CCS分類】J00/09光學(xué)儀器綜合
  • 【ICS分類】21.020焊接接頭

T/MZMS 0002-2021

印制電路行業(yè)AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2021-05-26
  • 【CCS分類】E00/09光學(xué)儀器綜合
  • 【ICS分類】17.180.01焊接接頭

BS PD ISO/TR 20811:2017

光學(xué)和光子學(xué) 激光和激光相關(guān)設(shè)備 激光誘導(dǎo)分子污染檢測(cè)

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2017-09-18
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】光學(xué)設(shè)備

BS ISO/IEC 30116:2016

信息技術(shù) 自動(dòng)識(shí)別和數(shù)據(jù)采集技術(shù) 光學(xué)字符識(shí)別(OCR)質(zhì)量檢測(cè)

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2016-12-31
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】光學(xué)測(cè)量?jī)x器

ISO 23864:2021

焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)自動(dòng)全聚焦技術(shù)及相關(guān)技術(shù)的應(yīng)用

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2021-01-19
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】25.160.40光學(xué)設(shè)備

DIN EN ISO 23864

焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)自動(dòng)全聚焦技術(shù)(TFM)及相關(guān)技術(shù)的使用

  • 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2022-04-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】眼科設(shè)備

EN ISO 23864:2021

焊縫無(wú)損檢測(cè).超聲波檢測(cè).自動(dòng)全聚焦技術(shù)(TFM)和相關(guān)技術(shù)的使用(ISO 23864-2021)

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-CEN歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2021-12-15
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】25.160.40光學(xué)設(shè)備

BS ISO 23864:2021

不?焊縫的破壞性試驗(yàn) 超聲波檢測(cè) 自動(dòng)全聚焦技術(shù)(TFM)及相關(guān)技術(shù)的使用

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2021-01-20
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

GB/T 10050-2009

光學(xué)和光學(xué)儀器 參考波長(zhǎng)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-09-30
  • 【CCS分類】N30
  • 【ICS分類】37.020

DIN EN ISO 23864-DRAFT

文件草案——焊縫無(wú)損檢測(cè)——超聲波檢測(cè)——自動(dòng)全聚焦技術(shù)(TFM)及相關(guān)技術(shù)的使用(ISO 23864-2021);德文和英文版本prEN ISO 23864:2021

  • 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2021-09-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

GB/T 10050-1988

光學(xué)和光學(xué)儀器 參考波長(zhǎng)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】1988-12-10
  • 【CCS分類】N30
  • 【ICS分類】17.180.30

u0413u041eu0421u0422 u0420 u0418u0421u041e 9211-2-2014

光學(xué)和光學(xué)儀器 光學(xué)涂料 光學(xué)特性

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N30
  • 【ICS分類】37.020

KS B ISO 11381-2013

光學(xué)和光學(xué)儀器眼科光學(xué)螺紋

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2013-12-31
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】11.040.70

KS B ISO 9211-2-2016

光學(xué)和光學(xué)儀器光學(xué)涂層第2部分:光學(xué)性能

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2016-11-28
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)