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無(wú)損檢測(cè)底片掃描檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2025-01-30     點(diǎn)擊數(shù):

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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

JB/T 13156-2017

無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相底片光學(xué)密度的測(cè)定方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
  • 【發(fā)布日期】2017-04-12
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 43618-2023

無(wú)損檢測(cè) 工藝塔伽馬射線掃描方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 26141.2-2010

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片數(shù)字化系統(tǒng)的質(zhì)量鑒定 第2部分:最低要求

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2011-01-14
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 26141.1-2010

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片數(shù)字化系統(tǒng)的質(zhì)量鑒定 第1部分:定義、像質(zhì)參數(shù)的定量測(cè)量、標(biāo)準(zhǔn)參考底片和定性控制

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2011-01-14
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

JB/T 13467-2018

無(wú)損檢測(cè) 掃描激光激勵(lì)超聲場(chǎng)可視化檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
  • 【發(fā)布日期】2018-04-30
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 19938-2005

無(wú)損檢測(cè) 焊縫射線照相和底片觀察條件 像質(zhì)計(jì)推薦型式的使用

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2005-09-19
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 25758.1-2010

無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性 第1部分:掃描方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2010-12-23
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 23901.3-2009

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片像質(zhì) 第3部分:黑色金屬像質(zhì)分類(lèi)

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-05-26
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 23901.1-2009

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片像質(zhì) 第1部分:線型像質(zhì)計(jì) 像質(zhì)指數(shù)的測(cè)定

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-05-26
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 23901.2-2009

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片像質(zhì) 第2部分:階梯孔型像質(zhì)計(jì) 像質(zhì)指數(shù)的測(cè)定

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-05-26
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 23901.4-2009

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片像質(zhì) 第4部分:像質(zhì)指數(shù)和像質(zhì)表的實(shí)驗(yàn)評(píng)價(jià)

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-05-26
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

GB/T 23901.5-2009

無(wú)損檢測(cè) 射線照相底片像質(zhì) 第5部分:雙線型像質(zhì)計(jì) 圖像不清晰度的測(cè)定

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-05-26
  • 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

JB/T 8543.1-1997

泵產(chǎn)品零件無(wú)損檢測(cè) 泵受壓鑄鋼件射線檢測(cè)方法及底片的等級(jí)分類(lèi)

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
  • 【發(fā)布日期】1997-04-15
  • 【CCS分類(lèi)】J70/89通用機(jī)械與設(shè)備
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

BS ISO 23159:2020

無(wú)損檢測(cè) 工藝柱的γ射線掃描法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2020-07-02
  • 【CCS分類(lèi)】冶金
  • 【ICS分類(lèi)】無(wú)損檢測(cè)

ISO 23159:2020

無(wú)損檢測(cè).工藝柱上的γ射線掃描法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2020-06-30
  • 【CCS分類(lèi)】
  • 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)

KS B ISO 23159-2022

無(wú)損檢測(cè).工藝柱上的伽馬射線掃描法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-11-18
  • 【CCS分類(lèi)】
  • 【ICS分類(lèi)】19.100金屬材料無(wú)損檢測(cè)

T/CSTM 00422-2022

無(wú)損檢測(cè) 中低頻磁致伸縮超聲導(dǎo)波B掃描檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-12-09
  • 【CCS分類(lèi)】H
  • 【ICS分類(lèi)】77.040.20

BS EN ISO 15708-1:2019

無(wú)損檢測(cè) 計(jì)算機(jī)斷層掃描的輻射方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2019-04-24
  • 【CCS分類(lèi)】
  • 【ICS分類(lèi)】

BS EN ISO 15708-4:2019

無(wú)損檢測(cè) 計(jì)算機(jī)斷層掃描的輻射方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2019-04-24
  • 【CCS分類(lèi)】
  • 【ICS分類(lèi)】

BS EN ISO 15708-2:2019

無(wú)損檢測(cè) 計(jì)算機(jī)斷層掃描的輻射方法

  • 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2019-04-24
  • 【CCS分類(lèi)】
  • 【ICS分類(lèi)】

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

無(wú)損檢測(cè)底片掃描檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢(xún)我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(無(wú)損檢測(cè)底片掃描檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢(xún)我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)