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安全光學(xué)元件檢測(cè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
GB/T 41805-2022
光學(xué)元件表面疵病定量檢測(cè)方法 顯微散射暗場(chǎng)成像法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2022-10-12
- 【CCS分類】N05儀器、儀表用材料和元件
- 【ICS分類】81.040.01玻璃綜合
IEC 62150-4:2009
纖維光學(xué)有源元件和器件.試驗(yàn)和測(cè)量程序.第4部分:使用時(shí)域光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的相對(duì)強(qiáng)度噪聲
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2009-11-20
- 【CCS分類】儀器、儀表用材料和元件
- 【ICS分類】33.180.20纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件
DIN EN 62150-4
纖維光學(xué)有源元件和器件.試驗(yàn)和測(cè)量程序.第4部分:使用時(shí)域光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的相對(duì)強(qiáng)度噪聲（IEC 62150-4-2009）；德文版EN 62150-4:2010
- 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2010-08-01
- 【CCS分類】光學(xué)設(shè)備
- 【ICS分類】光纖系統(tǒng)綜合
IEC TR 60825-17:2015
激光產(chǎn)品的安全第17部分:大功率光纖通信系統(tǒng)中無(wú)源光學(xué)元件和光纜使用的安全方面
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2015-10-09
- 【CCS分類】電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】33.180.01光電子學(xué)、激光設(shè)備
GB/T 40658-2021
溴化鉀光學(xué)元件
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-10-11
- 【CCS分類】N05光學(xué)設(shè)備
- 【ICS分類】31.260光學(xué)設(shè)備
DIN EN 60825 Supplement 17
激光產(chǎn)品的安全.補(bǔ)充件17:大功率光纖通信系統(tǒng)中無(wú)源光學(xué)元件和光纜使用的安全方面（IEC/TR 60825-17-2010）
- 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2012-01-01
- 【CCS分類】基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
- 【ICS分類】光纖系統(tǒng)綜合
BS 08/30179611 DC
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)EN 62150-4 光纖有源元件和器件 基本測(cè)試和測(cè)量程序 第四部分 使用時(shí)域光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的相對(duì)強(qiáng)度噪聲
- 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2008-03-11
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合
GB/T 20244-2006
光學(xué)纖維傳像元件
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-05-08
- 【CCS分類】N38
- 【ICS分類】37.020光電子學(xué)、激光設(shè)備
IEC TR 60825-17:2010
激光產(chǎn)品的安全第17部分:大功率光纖通信系統(tǒng)中無(wú)源光學(xué)元件和光纜使用的安全方面
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2010-11-10
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】33.180.01光學(xué)設(shè)備
DIN IEC 62150-4-DRAFT
文件草稿.光纖有源元件和器件.基本試驗(yàn)和測(cè)量程序.第4部分:使用時(shí)域光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的相對(duì)強(qiáng)度噪聲（IEC 86C/816/CD:2008）
- 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2008-07-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】光學(xué)設(shè)備
20242756-T-604
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)元件 復(fù)雜曲面光學(xué)元件幾何參數(shù)測(cè)試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2024-08-23
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】17.180.01光電子學(xué)、激光設(shè)備
SJ 20448-1994
玻璃光學(xué)元件減反射膜規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-SJ行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
- 【發(fā)布日期】1994-09-30
- 【CCS分類】L90
- 【ICS分類】光電子學(xué)、激光設(shè)備
20232013-T-604
氯化鈉光學(xué)元件
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.260光學(xué)設(shè)備
20233424-T-604
光學(xué)纖維傳像元件
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】N38
- 【ICS分類】37.020
NAS 3448 Rev.3
光學(xué)元件的包裝
- 【發(fā)布單位或類別】 US-NAS航空航天工業(yè)協(xié)會(huì) - 國(guó)家航空航天標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2012-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
u0413u041eu0421u0422 u0420 59420-2021
光學(xué)與光子學(xué) 光學(xué)元件 表面缺陷 視覺(jué)控制
- 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】
- 【CCS分類】A20/39
- 【ICS分類】37.020
KS B ISO 13696-2006
光學(xué)和光學(xué)儀器光學(xué)元件散射輻射的試驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-12-18
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.260
KS B ISO 13696-2006
光學(xué)和光學(xué)儀器光學(xué)元件散射輻射試驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-12-18
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.260
BS PD ISO/TR 14999-2:2019
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的干涉測(cè)量
- 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 【發(fā)布日期】2019-07-25
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
KS B ISO 14997-2019
光學(xué)和光子學(xué) - 光學(xué)元件表面缺陷的測(cè)試方法
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2019-12-13
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】37.020
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，無(wú)論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測(cè)試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問(wèn)或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問(wèn)，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（安全光學(xué)元件檢測(cè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
