獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
語(yǔ)言口語(yǔ)評(píng)測(cè)技術(shù)規(guī)范
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2022-11-21
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【CCS分類(lèi)】經(jīng)濟(jì)、文化
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【ICS分類(lèi)】35.240.99信息技術(shù)在其他領(lǐng)域中的應(yīng)用
語(yǔ)言資源管理 口語(yǔ)轉(zhuǎn)錄
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2016-08-31
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【CCS分類(lèi)】通信設(shè)備
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【ICS分類(lèi)】文字字體和文字轉(zhuǎn)寫(xiě)
語(yǔ)言資源管理 - 口語(yǔ)的轉(zhuǎn)錄
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
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【發(fā)布日期】2016-07-25
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】01.140.10術(shù)語(yǔ)學(xué)(原則和協(xié)調(diào)配合)
口語(yǔ)和手語(yǔ)翻譯的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
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【發(fā)布日期】2024-09-01
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】01.020信息技術(shù)、辦公機(jī)械設(shè)備 (詞匯)
英語(yǔ)口語(yǔ)能力等級(jí)計(jì)算機(jī)測(cè)評(píng)規(guī)范
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2021-06-17
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【CCS分類(lèi)】A10/19
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【ICS分類(lèi)】01.040.35工業(yè)自動(dòng)化系統(tǒng)
描述與口語(yǔ)對(duì)話系統(tǒng)交互的參數(shù)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-ITU國(guó)際電信聯(lián)盟
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【發(fā)布日期】2005-10-21
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】工業(yè)自動(dòng)化系統(tǒng)
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(stil)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)環(huán)境
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2015-12-30
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】25.040工業(yè)自動(dòng)化系統(tǒng)
數(shù)字測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-12-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】信息技術(shù)用語(yǔ)言
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(stil)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)環(huán)境
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-11-07
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】25.040信息技術(shù)用語(yǔ)言
半導(dǎo)體設(shè)計(jì)環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-12-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】環(huán)境保護(hù)
數(shù)字測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-IEEE美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】1999-09-01
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
IEEE測(cè)試流規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)(IEEE Std 1450-1999)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-IEEE美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2018-01-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
直流電平規(guī)范用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)的擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-12-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
用于直流電平規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-11-07
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】25.040
IEC/IEEE國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)-數(shù)字測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-IEEE美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-12-09
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
信息技術(shù)編程語(yǔ)言及其環(huán)境和系統(tǒng)軟件接口語(yǔ)言獨(dú)立數(shù)據(jù)類(lèi)型
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2001-12-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】35.060
數(shù)字測(cè)試向量數(shù)據(jù)核心測(cè)試語(yǔ)言(CTL)的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-IEEE美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2006-04-05
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
信息技術(shù)編程語(yǔ)言及其環(huán)境和系統(tǒng)軟件接口語(yǔ)言獨(dú)立的數(shù)據(jù)類(lèi)型
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2001-12-31
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】35.060
KEMENKEU NO. 137.1/PMK.011/2014
警告開(kāi)始從貝西或首都環(huán)境進(jìn)口語(yǔ)言產(chǎn)品
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 ID-LEX印尼技術(shù)法規(guī)
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【發(fā)布日期】2014-07-07
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【CCS分類(lèi)】M30/49
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【ICS分類(lèi)】13.020
測(cè)試儀目標(biāo)規(guī)范的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)(IEEE標(biāo)準(zhǔn)1450-1999)
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【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-IEEE美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2007-09-07
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【CCS分類(lèi)】
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【ICS分類(lèi)】
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程

注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于(怎么檢測(cè)口語(yǔ)是否檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。