• 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2018-12-28
• 【CCS分類】G10無機(jī)化工原料綜合
• 【ICS分類】半導(dǎo)體分立器件

微機(jī)電系統(tǒng)半導(dǎo)體氣體傳感器性能檢測方法

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB32江蘇省地方標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2024-11-07
• 【CCS分類】L40半導(dǎo)體分立器件綜合
• 【ICS分類】31.080其他半導(dǎo)體分立器件

半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第2部分：缺陷的光學(xué)檢測方法

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
• 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件

半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第3部分：缺陷的光致發(fā)光檢測方法

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
• 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件

半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第1部分：缺陷分類

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
• 【ICS分類】31.080.99信息技術(shù)應(yīng)用綜合

半導(dǎo)體車間金屬粉塵智能檢測分析系統(tǒng)

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2024-03-28
• 【CCS分類】微電路綜合
• 【ICS分類】35.240.01半導(dǎo)體材料

半導(dǎo)體晶圓缺陷自動光學(xué)檢測設(shè)備

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2023-08-08
• 【CCS分類】半導(dǎo)體分立器件綜合
• 【ICS分類】29.045集成電路、微電子學(xué)

IC類半導(dǎo)體固晶機(jī)檢測規(guī)范

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2022-09-23
• 【CCS分類】機(jī)械
• 【ICS分類】其他半導(dǎo)體分立器件

半導(dǎo)體集成電路硬件木馬檢測方法

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2021-11-22
• 【CCS分類】L55電氣照明
• 【ICS分類】31.200半導(dǎo)體器分立件綜合

半導(dǎo)體器件物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)用半導(dǎo)體器件第1部分:聲音變化檢測的試驗(yàn)方法

• 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
• 【發(fā)布日期】2022-12-14
• 【CCS分類】醫(yī)療器械
• 【ICS分類】31.080.99包裝機(jī)械

半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分：粒子碰撞噪聲檢測（PIND）

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
• 【發(fā)布日期】2020-04-01
• 【CCS分類】L40
• 【ICS分類】31.080.01半導(dǎo)體器分立件綜合

半導(dǎo)體與電子領(lǐng)域封裝用高精度智能視覺檢測機(jī)通用技術(shù)要求

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2024-04-28
• 【CCS分類】J
• 【ICS分類】55.200半導(dǎo)體器分立件綜合

半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測（PIND）

• 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2006-11-30
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】31.080.01有關(guān)燈的其他標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第16部分:粒子碰撞噪聲檢測（PIND）

• 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2006-11-30
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】31.080.01流體存儲裝置綜合

半導(dǎo)體照明試點(diǎn)示范工程LED道路和隧道照明現(xiàn)場檢測及驗(yàn)收實(shí)施細(xì)則

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2010-07-20
• 【CCS分類】K70/79
• 【ICS分類】29.140.99流體存儲裝置綜合

半導(dǎo)體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術(shù)要求

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2024-11-01
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】23.020.01半導(dǎo)體器分立件綜合

半導(dǎo)體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術(shù)要求

• 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2024-12-30
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】23.020.01無損檢測

半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測試方法 - 第16部分:粒子撞擊噪聲檢測（PIND）

• 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
• 【發(fā)布日期】2003-01-17
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】31.080.01

半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測（PIND）

• 【發(fā)布單位或類別】 ES-UNE西班牙標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】2003-11-21
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】

醫(yī)療電氣設(shè)備 具有用于X射線診斷成像的電離室和/或半導(dǎo)體檢測器的劑量計(jì)

• 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
• 【發(fā)布日期】
• 【CCS分類】C30/49
• 【ICS分類】19.100