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密度片 無損檢測檢測標準

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時間:2025-02-11     點擊數(shù):

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GB/T 31351-2014

碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2014-12-31
  • 【CCS分類】H26金屬無損檢驗方法
  • 【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗方法

GB/T 31786-2015

煙草及煙草制品 箱內(nèi)片煙密度偏差率的無損檢測 電離輻射法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2015-07-03
  • 【CCS分類】X87煙草制品
  • 【ICS分類】65.160煙草、煙草制品和煙草工業(yè)設備

GB/T 38898-2020

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2020-06-02
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】煙草、煙草制品和煙草工業(yè)設備

YC/T 236-2008

煙草及煙草制品 箱內(nèi)片煙密度偏差率的無損檢測 電離輻射法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-YC行業(yè)標準-煙草
  • 【發(fā)布日期】2008-04-14
  • 【CCS分類】X87煙草制品
  • 【ICS分類】65.160無損檢測

JB/T 13156-2017

無損檢測 工業(yè)射線照相底片光學密度的測定方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-JB行業(yè)標準-機械
  • 【發(fā)布日期】2017-04-12
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 35390-2017

無損檢測 彈藥密度工業(yè)計算機層析成像(CT)檢測方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2017-12-29
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 19802-2005

無損檢測 工業(yè)射線照相觀片燈 最低要求

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2005-06-08
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 35386-2017

無損檢測 工業(yè)計算機層析成像(CT)檢測用密度分辨力測試卡

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2017-12-29
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 35839-2018

無損檢測 工業(yè)計算機層析成像(CT)密度測量方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2018-02-06
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100金屬材料無損檢測

JB/T 6220-2011

無損檢測儀器 射線探傷用密度計

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-JB行業(yè)標準-機械
  • 【發(fā)布日期】2011-12-20
  • 【CCS分類】N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
  • 【ICS分類】77.040.20珠寶

QB/T 2855-2007

首飾 貴金屬含量的無損檢測 密度綜合法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-QB行業(yè)標準-輕工
  • 【發(fā)布日期】2007-05-29
  • 【CCS分類】Y88工藝美術品
  • 【ICS分類】39.060其他半導體分立器件

GB/T 43493.2-2023

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第2部分:缺陷的光學檢測方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

GB/T 43493.3-2023

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第3部分:缺陷的光致發(fā)光檢測方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

GB/T 43493.1-2023

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第1部分:缺陷分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發(fā)布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99半導體材料

T/IAWBS 010-2019

碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發(fā)布日期】2019-12-27
  • 【CCS分類】H20/29金屬理化性能試驗方法
  • 【ICS分類】29.045無損檢測

EN ISO 16526-2:2020

無損檢測X射線管電壓的測量和評定第2部分:厚濾光片法的恒定性檢驗

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-CEN歐洲標準化委員會
  • 【發(fā)布日期】2020-03-04
  • 【CCS分類】N70/79試驗機與無損探傷儀器
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

BS 09/30196769 DC

BS ISO 12030 煙草和煙草制品 在這種情況下 對薄板密度偏差進行無損檢測 電離輻射法

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標準學會
  • 【發(fā)布日期】2009-03-11
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】薄膜和薄板

ISO 16526-2:2011

無損檢測——X射線管電壓的測量和評估第2部分:用厚濾光片法進行恒定性檢查

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標準化組織
  • 【發(fā)布日期】2011-12-15
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】19.100

JJG 452-2021

黑白密度片

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-JJG國家計量檢定規(guī)程
  • 【發(fā)布日期】2021-12-08
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

ASTM D4437/D4437M-16

用于確定用于連接柔性聚合物片材土工膜的接縫的完整性的無損檢測(NDT)的標準實踐

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協(xié)會
  • 【發(fā)布日期】2018-02-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】83.140.10

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

密度片 無損檢測檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(密度片 無損檢測檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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