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半導(dǎo)體檢測(cè) 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
DB32/T 4894-2024
微機(jī)電系統(tǒng)半導(dǎo)體氣體傳感器性能檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB32江蘇省地方標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-11-07
- 【CCS分類】L40半導(dǎo)體分立器件綜合
- 【ICS分類】31.080半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.2-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第2部分：缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.3-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第3部分：缺陷的光致發(fā)光檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.1-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第1部分：缺陷分類
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 37131-2018
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2018-12-28
- 【CCS分類】G10無(wú)機(jī)化工原料綜合
- 【ICS分類】半導(dǎo)體材料
T/SZBSIA 007-2022
IC類半導(dǎo)體固晶機(jī)檢測(cè)規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2022-09-23
- 【CCS分類】微電路綜合
- 【ICS分類】集成電路、微電子學(xué)
T/CZSBDTHYXH 001-2023
半導(dǎo)體晶圓缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-08-08
- 【CCS分類】半導(dǎo)體分立器件綜合
- 【ICS分類】29.045信息技術(shù)應(yīng)用綜合
T/CIE 120-2021
半導(dǎo)體集成電路硬件木馬檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-11-22
- 【CCS分類】L55金屬物理性能試驗(yàn)方法
- 【ICS分類】31.200半導(dǎo)體器分立件綜合
T/QGCML 3970-2024
半導(dǎo)體車間金屬粉塵智能檢測(cè)分析系統(tǒng)
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-03-28
- 【CCS分類】機(jī)械
- 【ICS分類】35.240.01其他半導(dǎo)體分立器件
20201542-T-339
半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分：粒子碰撞噪聲檢測(cè)（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
- 【發(fā)布日期】2020-04-01
- 【CCS分類】L40電氣照明
- 【ICS分類】31.080.01包裝機(jī)械
IEC 63364-1:2022
半導(dǎo)體器件物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)用半導(dǎo)體器件第1部分:聲音變化檢測(cè)的試驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】2022-12-14
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.99流體存儲(chǔ)裝置綜合
GB/T 40296-2021
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-08-20
- 【CCS分類】H21
- 【ICS分類】流體存儲(chǔ)裝置綜合
T/CASME 1447-2024
半導(dǎo)體與電子領(lǐng)域封裝用高精度智能視覺(jué)檢測(cè)機(jī)通用技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-04-28
- 【CCS分類】J
- 【ICS分類】55.200有關(guān)燈的其他標(biāo)準(zhǔn)
T/CHPSA YY005-2024
半導(dǎo)體超純聚合物過(guò)流部件污染物檢測(cè)及表面粗糙度技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-11-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01半導(dǎo)體器分立件綜合
T/CMES 24021-2024
半導(dǎo)體超純聚合物過(guò)流部件污染物檢測(cè)及表面粗糙度技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-12-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01半導(dǎo)體器分立件綜合
T/CSA 004-2010
半導(dǎo)體照明試點(diǎn)示范工程LED道路和隧道照明現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)及驗(yàn)收實(shí)施細(xì)則
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2010-07-20
- 【CCS分類】K70/79
- 【ICS分類】29.140.99
JJG 310003-2006
半導(dǎo)體分立器件電容參數(shù)測(cè)試儀檢定規(guī)程
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JJG國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程
- 【發(fā)布日期】2006-05-16
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
JJG 310002-2006
半導(dǎo)體分立器件直流參數(shù)測(cè)試儀檢定規(guī)程
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JJG國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程
- 【發(fā)布日期】2006-05-16
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
KS C IEC 60749-16-2006
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測(cè)（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01
KS C IEC 60749-16-2006
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第16部分:粒子碰撞噪聲檢測(cè)（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，無(wú)論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測(cè)試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問(wèn)或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問(wèn)，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（半導(dǎo)體檢測(cè) 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
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全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
