當(dāng)前位置:首頁(yè) > 檢測(cè)項(xiàng)目 > 非標(biāo)實(shí)驗(yàn)室 > 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
尺寸精度,表面粗糙度,導(dǎo)熱系數(shù),抗彎強(qiáng)度,介電常數(shù),耐電壓強(qiáng)度,熱膨脹系數(shù),硬度(維氏/洛氏),密度,孔隙率,化學(xué)成分分析,熱沖擊性能,耐腐蝕性,絕緣電阻,表面平整度,粘接強(qiáng)度(金屬化層),耐磨性,顯微結(jié)構(gòu)分析,斷裂韌性,高溫穩(wěn)定性,氣密性測(cè)試,介電損耗,批次一致性,微觀缺陷檢測(cè),殘余應(yīng)力測(cè)試,導(dǎo)電層厚度,抗老化性能,環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試(溫濕度循環(huán)),超聲波探傷
氧化鋁陶瓷基板,氮化鋁陶瓷基板,氮化硅陶瓷基板,碳化硅陶瓷基板,氧化鈹陶瓷基板,低溫共燒陶瓷基板(LTCC),高溫共燒陶瓷基板(HTCC),多層陶瓷基板,單層陶瓷基板,金屬化陶瓷基板,高頻陶瓷基板,高導(dǎo)熱陶瓷基板,光電封裝陶瓷基板,功率模塊陶瓷基板,LED陶瓷基板,半導(dǎo)體封裝陶瓷基板,微波射頻陶瓷基板,厚膜陶瓷基板,薄膜陶瓷基板,混合陶瓷基板,納米陶瓷基板,柔性陶瓷基板
X射線衍射分析(XRD):用于材料相結(jié)構(gòu)及晶型鑒定。
掃描電子顯微鏡(SEM):觀察表面形貌及微觀結(jié)構(gòu)。
熱重分析(TGA):測(cè)定材料熱穩(wěn)定性與分解溫度。
激光導(dǎo)熱儀:非接觸式測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)。
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī):測(cè)試抗彎強(qiáng)度、斷裂韌性等機(jī)械性能。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x:高精度檢測(cè)尺寸與幾何公差。
表面粗糙度儀:量化評(píng)估表面光潔度。
顯微硬度計(jì):測(cè)定材料局部硬度。
阻抗分析儀:評(píng)估介電常數(shù)與介電損耗。
熱膨脹儀:測(cè)量材料熱膨脹系數(shù)隨溫度變化。
金相顯微鏡:分析顯微組織及孔隙分布。
超聲波探傷儀:檢測(cè)內(nèi)部裂紋或分層缺陷。
氦氣檢漏儀:驗(yàn)證氣密性及封裝可靠性。
電化學(xué)工作站:測(cè)試耐腐蝕性與電化學(xué)特性。
原子吸收光譜儀(AAS):精確分析重金屬含量。
X射線衍射儀,掃描電子顯微鏡,熱重分析儀,激光導(dǎo)熱儀,萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī),三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,表面粗糙度儀,顯微硬度計(jì),阻抗分析儀,熱膨脹儀,金相顯微鏡,超聲波探傷儀,氦氣檢漏儀,電化學(xué)工作站,原子吸收光譜儀,高頻介電常數(shù)測(cè)試儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES),紅外熱像儀,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),熒光光譜儀
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器,適用于各種材料的樣品,并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn),無(wú)論是常規(guī)樣品還是科研樣品,都有定制化試驗(yàn)方案。
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣,主要包括:材料,能源,性能測(cè)試,醫(yī)藥領(lǐng)域,生物,動(dòng)物,植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持,如果您對(duì)于報(bào)告有疑問(wèn)或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問(wèn),我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于(陶瓷基板檢測(cè)方法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。