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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

ROHS檢測中的鈉含量檢測是針對電子電氣產(chǎn)品中鈉元素含量的合規(guī)性評估，確保產(chǎn)品符合歐盟《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》（ROHS）要求。鈉作為潛在的環(huán)境風險物質(zhì)，其含量控制對環(huán)境保護、人體健康及國際市場準入具有重要意義。通過檢測可驗證材料安全性，避免有害物質(zhì)超標導致的法規(guī)處罰或貿(mào)易壁壘，同時提升企業(yè)產(chǎn)品的綠色競爭力。

檢測項目

鈉含量，鉛含量，汞含量，鎘含量，六價鉻含量，多溴聯(lián)苯（PBBs），多溴二苯醚（PBDEs），鄰苯二甲酸二（2-乙基己基）酯（DEHP），鄰苯二甲酸丁芐酯（BBP），鄰苯二甲酸二丁酯（DBP），鄰苯二甲酸二異丁酯（DIBP），總鹵素含量，揮發(fā)性有機化合物（VOCs），多環(huán)芳烴（PAHs），鎳釋放量，砷含量，硒含量，銻含量，鈹含量，鈷含量，鋇含量，總鉻含量，鐠含量。

檢測范圍

電子元器件，印刷電路板，電線電纜，塑料外殼，金屬鍍層，電池，顯示器，半導體材料，絕緣材料，連接器，電源適配器，燈具，家用電器，電動工具，玩具電子產(chǎn)品，醫(yī)療設(shè)備，汽車電子部件，涂料，焊錫材料，包裝材料，陶瓷部件，玻璃材料，橡膠制品，磁性材料，光學組件。

檢測方法

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：通過高溫等離子體激發(fā)樣品中的鈉元素并測定其特征光譜強度。 X射線熒光光譜法（XRF）：利用X射線激發(fā)樣品中鈉原子并分析其熒光信號。 原子吸收光譜法（AAS）：通過鈉元素對特定波長光的吸收進行定量分析。 離子色譜法（IC）：分離并檢測樣品中可溶性鈉離子。 微波消解-質(zhì)譜聯(lián)用法（ICP-MS）：結(jié)合消解技術(shù)與質(zhì)譜精準測定痕量鈉含量。 紫外可見分光光度法（UV-Vis）：通過顯色反應(yīng)測定鈉的吸光度。 火花源原子發(fā)射光譜法：適用于金屬材料中鈉的快速檢測。 激光誘導擊穿光譜法（LIBS）：利用激光激發(fā)樣品表面產(chǎn)生等離子體并分析鈉譜線。 熱重分析法（TGA）：結(jié)合鈉揮發(fā)特性進行間接含量評估。 中子活化分析法（NAA）：通過中子輻照測定鈉同位素活性。 掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）：表面鈉元素分布與半定量分析。 火焰光度法：基于鈉在火焰中發(fā)射的特征光強度測定含量。 電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：高靈敏度檢測鈉同位素豐度。 濕化學滴定法：通過化學反應(yīng)滴定鈉離子濃度。 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（GC-MS）：用于鈉有機化合物的分離與檢測。

檢測儀器

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES），X射線熒光光譜儀（XRF），原子吸收光譜儀（AAS），離子色譜儀（IC），電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS），紫外可見分光光度計，微波消解儀，激光誘導擊穿光譜儀（LIBS），掃描電子顯微鏡-能譜儀（SEM-EDS），火焰光度計，熱重分析儀（TGA），氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS），中子活化分析裝置，火花源原子發(fā)射光譜儀，濕化學滴定裝置。

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（ROHS檢測鈉含量檢測標準）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。