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注意：因業(yè)務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

無損檢測貴金屬含量是通過非破壞性技術手段測定貴金屬制品（如金、銀、鉑、鈀等）的成分含量及純度等級，廣泛應用于珠寶首飾、電子元件、工業(yè)催化劑等領域。此類檢測對保障產品質量、驗證合規(guī)性、防止摻假欺詐以及支持貿易交易具有重要作用。第三方檢測機構通過標準化流程和先進設備，確保檢測結果精準可靠，滿足國內外行業(yè)標準及法規(guī)要求。

檢測項目

貴金屬純度分析，密度測定，表面成分分析，元素分布均勻性，鍍層厚度，顯微硬度，電導率檢測，磁性測試，熱導率測試，微觀結構觀察，腐蝕抗性測試，雜質元素含量，重量偏差檢測，尺寸精度驗證，表面光潔度評估，孔隙率檢測，氧化層分析，晶格結構分析，放射性殘留檢測，電化學性能測試。

檢測范圍

黃金首飾，鉑金飾品，銀質器皿，鈀合金催化劑，貴金屬鍍層材料，金條/金錠，銀幣/紀念幣，醫(yī)用貴金屬器械，電子接插件，半導體封裝材料，珠寶鑲嵌部件，貴金屬回收料，銠催化網，銥坩堝，釕涂層材料，貴金屬納米粉末，貴金屬復合材料，金絲鍵合線，鉑電阻絲，鈀碳催化劑。

檢測方法

X射線熒光光譜法（XRF）：通過X射線激發(fā)樣品表面元素產生特征熒光光譜，實現(xiàn)無損成分分析。

超聲波檢測法：利用高頻聲波穿透材料，檢測內部缺陷或結構均勻性。

電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）：高靈敏度測定痕量元素含量。

顯微紅外光譜法：分析材料表面化學鍵及分子結構。

電子探針微區(qū)分析（EPMA）：精確測定微區(qū)元素分布及含量。

激光誘導擊穿光譜法（LIBS）：通過激光燒蝕產生等離子體光譜進行快速成分分析。

熱重分析法（TGA）：測定材料熱穩(wěn)定性及成分變化。

掃描電子顯微鏡（SEM）：觀察表面形貌及微觀結構。

能量色散X射線光譜（EDS）：配合SEM實現(xiàn)元素成分半定量分析。

磁感應法：檢測材料的磁導率以判斷合金成分。

渦流檢測法：評估導電材料的電導率及表面缺陷。

光學發(fā)射光譜法（OES）：通過電弧激發(fā)元素特征譜線進行成分分析。

拉曼光譜法：識別材料分子結構及相變信息。

中子活化分析（NAA）：高精度測定貴金屬含量及雜質。

電化學阻抗譜（EIS）：評估材料表面腐蝕行為及涂層性能。

檢測儀器

X射線熒光光譜儀，超聲波測厚儀，電感耦合等離子體質譜儀，顯微紅外光譜儀，電子探針分析儀，激光誘導擊穿光譜儀，熱重分析儀，掃描電子顯微鏡，能量色散光譜儀，磁導率測試儀，渦流檢測儀，光學發(fā)射光譜儀，拉曼光譜儀，中子活化分析裝置，電化學工作站。

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（無損檢測貴金屬含量標準參考）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。