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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。

納米粒子平均粒徑檢測(cè)技術(shù)及應(yīng)用分析

一、檢測(cè)樣品 本次檢測(cè)樣品為實(shí)驗(yàn)室合成的三種納米材料：二氧化硅納米顆粒（SiO?）、氧化鋅納米顆粒（ZnO）及金納米顆粒（Au）。樣品制備采用溶膠-凝膠法（SiO?）、水熱法（ZnO）和化學(xué)還原法（Au），經(jīng)離心純化后分散于去離子水中形成穩(wěn)定懸浮液。

二、檢測(cè)項(xiàng)目

1. 粒徑分布曲線
2. 平均粒徑（D50）
3. 多分散指數(shù)（PDI）
4. 粒徑分布范圍（D10-D90）

三、檢測(cè)方法

1. 動(dòng)態(tài)光散射法（DLS） 通過檢測(cè)納米粒子布朗運(yùn)動(dòng)引起的散射光強(qiáng)度波動(dòng)，利用Stokes-Einstein方程計(jì)算流體力學(xué)直徑。該方法適用于1-1000 nm粒徑范圍的液態(tài)分散體系檢測(cè)。

2. 掃描電子顯微鏡法（SEM） 采用場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在20 kV加速電壓下觀察納米粒子形貌，通過ImageJ軟件對(duì)200個(gè)以上粒子的投影直徑進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，獲得幾何平均粒徑。

四、檢測(cè)儀器

1. 激光粒度分析儀（Malvern Zetasizer Nano ZS） 配備633 nm He-Ne激光器，散射角設(shè)置為173°，溫度控制精度±0.1℃，支持動(dòng)態(tài)光散射與靜態(tài)光散射聯(lián)用技術(shù)。

2. 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FEI Nova NanoSEM 450） 配置二次電子探測(cè)器，分辨率達(dá)1.0 nm@15 kV，配合低真空模式實(shí)現(xiàn)非導(dǎo)電樣品直接觀測(cè)。

五、檢測(cè)結(jié)果分析 DLS檢測(cè)顯示三類樣品的平均粒徑分別為：SiO?（68.5±2.3 nm）、ZnO（42.1±1.8 nm）、Au（15.6±0.9 nm）。SEM測(cè)量結(jié)果與DLS數(shù)據(jù)偏差小于8%，證實(shí)樣品具有良好單分散性。PDI值均低于0.15，符合ISO 22412標(biāo)準(zhǔn)對(duì)單分散體系的判定要求。

六、技術(shù)應(yīng)用 精確的粒徑檢測(cè)為納米材料在藥物遞送、催化反應(yīng)和光學(xué)器件等領(lǐng)域的應(yīng)用提供關(guān)鍵參數(shù)支持。建議對(duì)高濃度樣品（>1 mg/mL）采用離心稀釋預(yù)處理，避免多重散射效應(yīng)影響DLS測(cè)試精度。

關(guān)鍵詞：納米粒子，粒徑分析，動(dòng)態(tài)光散射，電子顯微鏡，材料表征

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（納米粒子平均粒徑檢測(cè)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。