獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。

顆粒直徑檢測(cè)是材料科學(xué)、化工、制藥、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域中常見的分析需求，主要目的是確定顆粒的粒徑分布、平均直徑或特定尺寸范圍內(nèi)的顆粒占比。以下是常見的檢測(cè)方法及其應(yīng)用場(chǎng)景：

1. 激光衍射法（Laser Diffraction）

• 原理：通過顆粒對(duì)激光的散射角度和強(qiáng)度反推粒徑分布（基于米氏散射理論）。
• 適用場(chǎng)景：
  • 液體或氣體中的懸浮顆粒（如乳液、納米材料）。
  • 粒徑范圍：0.1 μm ~ 3 mm。
• 優(yōu)點(diǎn)：快速、重復(fù)性好，適合寬分布樣品。
• 缺點(diǎn)：需假設(shè)顆粒為球形，對(duì)非球形顆粒誤差較大。

2. 動(dòng)態(tài)光散射（DLS, Dynamic Light Scattering）

• 原理：分析顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致的光強(qiáng)波動(dòng)，計(jì)算粒徑。
• 適用場(chǎng)景：
  • 納米級(jí)顆粒（1 nm ~ 1 μm）。
  • 膠體、蛋白質(zhì)、高分子溶液。
• 優(yōu)點(diǎn)：適合小顆粒，無需校準(zhǔn)。
• 缺點(diǎn)：對(duì)樣品純度要求高，易受團(tuán)聚干擾。

3. 顯微鏡圖像分析法

• 光學(xué)顯微鏡：
  • 粒徑范圍：1 μm ~ 1 mm。
  • 手動(dòng)或軟件分析圖像（如ImageJ）。
• 電子顯微鏡（SEM/TEM）：
  • 粒徑范圍：1 nm ~ 100 μm。
  • 高分辨率，可直接觀察形貌。
• 優(yōu)點(diǎn)：直觀、可分析形狀和結(jié)構(gòu)。
• 缺點(diǎn)：耗時(shí)，樣本制備復(fù)雜（如鍍膜、干燥）。

4. 庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器（Coulter Counter）

• 原理：通過顆粒通過微孔時(shí)的電阻變化測(cè)量體積，推算直徑。
• 適用場(chǎng)景：
  • 液體中的細(xì)胞、微米級(jí)顆粒（0.4 μm ~ 1.6 mm）。
• 優(yōu)點(diǎn)：高精度，適合窄分布樣品。
• 缺點(diǎn)：易堵塞微孔，需導(dǎo)電介質(zhì)。

5. 沉降法（Sedimentation）

• 原理：根據(jù)斯托克斯定律，通過顆粒在液體中的沉降速度計(jì)算粒徑。
• 方法：
  • 重力沉降：1 μm ~ 100 μm。
  • 離心沉降：0.01 μm ~ 10 μm。
• 優(yōu)點(diǎn)：設(shè)備簡(jiǎn)單，適合大顆粒。
• 缺點(diǎn)：耗時(shí)長(zhǎng)，需已知密度和粘度。

6. 篩分法（Sieving）

• 原理：使用標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)分離不同粒徑的顆粒。
• 適用場(chǎng)景：
  • 干燥粉末或顆粒（20 μm ~ 125 mm）。
• 優(yōu)點(diǎn)：低成本，操作簡(jiǎn)單。
• 缺點(diǎn)：僅適用于較大顆粒，無法分析形狀影響。

7. 超聲衰減法（Ultrasound Attenuation）

• 原理：通過超聲波在懸浮液中的衰減特性反推粒徑。
• 適用場(chǎng)景：
  • 高濃度懸浮液（如陶瓷漿料、藥品）。
  • 粒徑范圍：10 nm ~ 1000 μm。
• 優(yōu)點(diǎn)：可在線監(jiān)測(cè)，無需稀釋樣品。
• 缺點(diǎn)：需復(fù)雜算法處理數(shù)據(jù)。

選擇檢測(cè)方法的關(guān)鍵因素

1. 粒徑范圍：納米級(jí)（DLS）、微米級(jí)（激光衍射）、毫米級(jí)（篩分法）。
2. 樣品狀態(tài)：液體、粉末、懸浮液、干粉。
3. 精度需求：是否需要統(tǒng)計(jì)分布（如D10, D50, D90）或單顆粒分析。
4. 成本與時(shí)間：電鏡成本高但分辨率高；篩分法低成本但粗糙。
5. 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范：遵循行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如ISO 13320激光衍射法、ISO 22412 DLS法）。

典型案例

• 制藥行業(yè)：激光衍射法檢測(cè)藥物顆粒均勻性（符合USP標(biāo)準(zhǔn)）。
• 納米材料：DLS或TEM分析量子點(diǎn)粒徑。
• 土壤/砂石：篩分法+顯微鏡輔助。

若有具體應(yīng)用場(chǎng)景或樣品類型，可進(jìn)一步優(yōu)化方案！

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（顆粒直徑檢測(cè)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。