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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
本次檢測(cè)樣品為實(shí)驗(yàn)室制備的單壁碳納米管(SWCNTs)和多壁碳納米管(MWCNTs),樣品經(jīng)過純化處理,包含未功能化及羧酸基團(tuán)功能化兩種類型。樣品形態(tài)為黑色粉末狀,粒徑分布范圍為直徑1-3 nm(單壁)和10-30 nm(多壁),長度約1-10 μm。
結(jié)構(gòu)表征
成分與純度
物理化學(xué)性能
掃描電子顯微鏡(SEM) 采用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(型號(hào):Hitachi SU8220)觀察碳納米管表面形貌及團(tuán)聚狀態(tài),加速電壓設(shè)定為5 kV,工作距離8 mm。
透射電子顯微鏡(TEM) 使用高分辨透射電鏡(型號(hào):JEOL JEM-2100F)分析單根碳納米管的管徑、層數(shù)及缺陷結(jié)構(gòu),樣品經(jīng)乙醇分散后滴加至銅網(wǎng)支持膜。
拉曼光譜(Raman) 通過拉曼光譜儀(型號(hào):Horiba LabRAM HR Evolution)檢測(cè)碳納米管的G峰、D峰及徑向呼吸模(RBM),評(píng)估石墨化程度和缺陷密度,激光波長532 nm。
熱重分析(TGA) 采用熱重分析儀(型號(hào):TA Instruments Q500)測(cè)定樣品在氮?dú)猸h(huán)境下的熱穩(wěn)定性,升溫速率10°C/min,溫度范圍30-900°C。
X射線光電子能譜(XPS) 利用XPS(型號(hào):Thermo Scientific K-Alpha)分析表面元素組成及官能團(tuán)類型,結(jié)合氬離子濺射技術(shù)去除表面污染層。
通過上述檢測(cè)方法,可全面評(píng)估碳納米管的微觀結(jié)構(gòu)、成分純度及功能性指標(biāo),為材料在電子器件、復(fù)合增強(qiáng)材料等領(lǐng)域的應(yīng)用提供數(shù)據(jù)支持。檢測(cè)結(jié)果表明,樣品中單壁碳納米管純度達(dá)98.5%,金屬催化劑殘留量低于0.3 wt%,熱分解溫度超過600°C,符合高端工業(yè)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)。
(本文內(nèi)容僅為示例,實(shí)際檢測(cè)需根據(jù)具體需求設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案。)
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器,適用于各種材料的樣品,并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn),無論是常規(guī)樣品還是科研樣品,都有定制化試驗(yàn)方案。
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣,主要包括:材料,能源,性能測(cè)試,醫(yī)藥領(lǐng)域,生物,動(dòng)物,植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持,如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問,我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于(碳納米管測(cè)試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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