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光電池測試

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時間:2025-04-16     點擊數(shù):

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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。

光電池性能測試分析報告

檢測樣品

本次測試樣品為三種類型的光電池,包括:

  1. 單晶硅光電池:規(guī)格為156 mm × 156 mm,標(biāo)稱功率5.2 W。
  2. 多晶硅光電池:規(guī)格為125 mm × 125 mm,標(biāo)稱功率4.8 W。
  3. 非晶硅薄膜光電池:規(guī)格為100 mm × 100 mm,標(biāo)稱功率3.5 W。

檢測項目

測試涵蓋以下核心性能指標(biāo):

  • 光電轉(zhuǎn)換效率:評估光電池將光能轉(zhuǎn)化為電能的效率。
  • 光譜響應(yīng)特性:分析光電池對不同波長光線的敏感度。
  • 溫度系數(shù):測試溫度變化對輸出功率的影響。
  • 暗電流特性:測定無光照條件下的漏電流水平。

檢測方法

  1. 光電轉(zhuǎn)換效率測試 在標(biāo)準(zhǔn)測試條件(STC:光照強度1000 W/m²,溫度25℃,AM1.5光譜)下,使用太陽模擬器照射樣品,通過伏安特性曲線計算最大輸出功率與理論光功率的比值。

  2. 光譜響應(yīng)分析 采用分光光度計對光電池進行波長掃描(范圍300-1200 nm),記錄不同波長下的短路電流密度,生成光譜響應(yīng)曲線。

  3. 溫度系數(shù)測試 將光電池置于恒溫箱中,控制溫度在15℃至75℃范圍內(nèi)變化,測量開路電壓(Voc)和短路電流(Isc)隨溫度的波動,計算溫度系數(shù)。

  4. 暗電流測試 在完全遮光環(huán)境下,使用高精度電流表測量光電池兩端的反向偏置電流,評估其暗電流密度。

檢測儀器

本次測試使用的主要設(shè)備如下:

  • 太陽模擬器:型號PVS-300,光譜匹配度A級,輻照不均勻度≤2%。
  • 高精度源表:Keysight B2902A,支持電壓-電流(VI)特性掃描。
  • 分光光度計:Ocean Optics HR4000,波長分辨率0.2 nm。
  • 恒溫箱:ESPEC SH-261,控溫精度±0.5℃。
  • 暗電流測試系統(tǒng):Keithley 6487,電流分辨率0.1 pA。

測試結(jié)果概述

  1. 轉(zhuǎn)換效率對比 單晶硅光電池效率最高(21.3%),多晶硅次之(18.7%),非晶硅薄膜電池效率最低(12.5%)。
  2. 光譜響應(yīng)特性 單晶硅在可見光波段(400-700 nm)響應(yīng)最佳,非晶硅薄膜電池在弱光環(huán)境下表現(xiàn)更優(yōu)。
  3. 溫度系數(shù)影響 所有樣品輸出電壓均隨溫度升高而下降,單晶硅的溫度系數(shù)(-0.35%/℃)優(yōu)于多晶硅(-0.42%/℃)。
  4. 暗電流水平 非晶硅薄膜電池暗電流密度最高(2.1×10?? A/cm²),可能與材料缺陷相關(guān)。

通過系統(tǒng)化測試,可全面評估光電池的核心性能,為產(chǎn)品優(yōu)化與應(yīng)用場景選擇提供數(shù)據(jù)支持。


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實驗儀器

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測試流程

光電池測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(光電池測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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