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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

磁光調(diào)制器性能測試方法與實(shí)驗(yàn)分析

一、檢測樣品

本次測試針對三類典型磁光調(diào)制器樣品進(jìn)行性能驗(yàn)證：

1. 鋱鎵石榴石（TGG）晶體型磁光調(diào)制器（波長范圍1064 nm）
2. 釔鐵石榴石（YIG）薄膜型高速調(diào)制器（工作頻段1.5 μm）
3. 新型摻鉍硅基磁光波導(dǎo)調(diào)制器（兼容光纖通信系統(tǒng)）

二、檢測項(xiàng)目

核心性能指標(biāo)檢測體系包含：

• 調(diào)制深度與線性度
• 頻率響應(yīng)特性（3dB帶寬）
• 偏振相關(guān)損耗（PDL）
• 溫度穩(wěn)定性（-20℃至80℃工況）
• 插入損耗譜線特征
• 磁滯回線特性

三、檢測方法

1. 調(diào)制深度測試 采用雙光路差分檢測法，通過可調(diào)諧激光源輸出穩(wěn)定光信號，經(jīng)偏振控制器輸入被測器件。施加0-200 Oe可調(diào)磁場，使用光電探測器同步采集輸出光強(qiáng)變化，計(jì)算最大調(diào)制深度。

2. 頻率響應(yīng)測試 搭建射頻矢量網(wǎng)絡(luò)分析系統(tǒng)，將掃頻信號（1 MHz-5 GHz）加載于調(diào)制器驅(qū)動線圈，通過高速光電探測器接收光信號，繪制幅頻響應(yīng)曲線并提取3dB截止頻率。

3. 溫度特性測試 將樣品置于高低溫試驗(yàn)箱，采用PID溫控系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)-20℃至80℃梯度變化。每個溫度點(diǎn)恒溫30分鐘后，測量插入損耗與調(diào)制效率的溫漂系數(shù)。

四、檢測儀器

儀器類型	設(shè)備型號	技術(shù)參數(shù)
偏振分析儀	Thorlabs PAX1000	波長范圍400-1700 nm，偏振精度±0.5°
磁場發(fā)生系統(tǒng)	LakeShore 647	最大場強(qiáng)300 Oe，均勻度±1%
光功率計(jì)	Newport 2936-R	探測靈敏度-90 dBm，動態(tài)范圍70 dB
高速示波器	Keysight DSOX92004A	帶寬20 GHz，采樣率80 GSa/s
溫控試驗(yàn)箱	ESPEC SH-261	控溫精度±0.5℃，變溫速率5℃/min

五、測試結(jié)論

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示，YIG薄膜器件在2.4 GHz處仍保持78%調(diào)制效率，優(yōu)于傳統(tǒng)TGG晶體器件。摻鉍硅基波導(dǎo)型樣品表現(xiàn)出0.15 dB/℃的優(yōu)異溫度穩(wěn)定性，但在高頻段（>3 GHz）存在明顯插損增加現(xiàn)象。測試結(jié)果為磁光器件的選型應(yīng)用提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。

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實(shí)驗(yàn)儀器

測試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（磁光調(diào)制器測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。