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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

光功率分路器測試方法與流程

檢測樣品

光功率分路器的檢測樣品主要包括以下類型：

1. PLC型光分路器：基于平面光波導技術(shù)制造，適用于高密度分光場景。
2. 熔融拉錐型光分路器：通過熔融拉伸光纖實現(xiàn)分光，常用于低分光比需求場景。
3. 微光學型光分路器：結(jié)合微型光學元件設(shè)計，適用于特殊波長或高精度分光場景。

檢測前需確認樣品封裝形式（如盒式、裸纖式）、端口數(shù)量（1×2、1×4等）及工作波長范圍（如1310 nm、1550 nm）。

檢測項目

光功率分路器的核心檢測項目包括：

• 插入損耗（Insertion Loss）：測試光信號從輸入端口到輸出端口的功率損耗。
• 分光比（Splitting Ratio）：驗證各輸出端口的功率分配是否符合標稱值。
• 回波損耗（Return Loss）：檢測輸入端因反射引起的信號損耗。
• 偏振相關(guān)損耗（PDL）：評估分路器對不同偏振態(tài)光的損耗差異。
• 波長依賴性：驗證分光特性是否隨波長變化超出允許范圍。
• 溫度穩(wěn)定性：測試分路器在高溫、低溫環(huán)境下的性能一致性。

檢測方法

1. 插入損耗測試 使用穩(wěn)定光源與光功率計組合，分別測量輸入端口與各輸出端口的功率值，計算損耗差值。公式為： 插入損耗（dB）= 輸入功率（dBm）- 輸出功率（dBm）。

2. 分光比測試 在輸入端注入標準光信號，通過光功率計測量所有輸出端口的功率，計算分光比。例如，若輸出端口功率為P1和P2，則分光比為 P1/(P1+P2)×100%。

3. 回波損耗測試 采用光回損測試儀（ORL Meter），將測試光注入分路器輸入端口，直接讀取反射信號強度，計算回波損耗值。

4. 溫度循環(huán)測試 將樣品置于溫箱中，在-40°C至+85°C范圍內(nèi)循環(huán)測試，記錄各溫度點下的插入損耗與分光比變化。

檢測儀器

1. 光功率計：用于精確測量光信號功率，支持多波長校準（如850 nm、1310 nm、1550 nm）。
2. 穩(wěn)定光源：提供高穩(wěn)定性、窄線寬的光信號輸出，確保測試準確性。
3. 光譜分析儀：分析分路器的波長依賴性及偏振相關(guān)損耗特性。
4. 光回損測試儀：專用于測量反射損耗，分辨率需達到0.1 dB。
5. 高低溫試驗箱：模擬極端溫度環(huán)境，驗證分路器的工作穩(wěn)定性。

通過以上測試流程，可全面評估光功率分路器的性能指標，確保其在實際應(yīng)用中的可靠性與壽命。測試結(jié)果需符合行業(yè)標準（如Telcordia GR-1209-CORE、GB/T 9771），以滿足光纖通信網(wǎng)絡(luò)的高質(zhì)量需求。

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實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（光功率分路器測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。