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原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測(cè)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2025-06-13     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

信息概要

原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測(cè)是一種高精度的表面形貌分析技術(shù),通過(guò)探針與樣品表面的相互作用力來(lái)測(cè)量納米級(jí)甚至原子級(jí)的表面形貌和粗糙度。該檢測(cè)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域,對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化以及研發(fā)創(chuàng)新具有重要意義。通過(guò)AFM檢測(cè),可以獲取樣品表面的三維形貌、粗糙度參數(shù)、微觀結(jié)構(gòu)等信息,為材料性能評(píng)估和工藝改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面粗糙度(Ra), 均方根粗糙度(Rq), 最大峰谷高度(Rz), 平均高度(Rc), 表面偏斜度(Rsk), 表面峰度(Rku), 表面輪廓算術(shù)平均偏差(Ra), 表面輪廓最大高度(Ry), 表面輪廓微觀不平度十點(diǎn)高度(Rz), 表面輪廓均方根偏差(Rq), 表面輪廓峰谷高度(Rt), 表面輪廓峰密度(Rp), 表面輪廓谷密度(Rv), 表面輪廓峰谷比(Rp/Rv), 表面輪廓自相關(guān)長(zhǎng)度, 表面輪廓功率譜密度, 表面輪廓分形維數(shù), 表面輪廓斜率, 表面輪廓曲率, 表面輪廓波長(zhǎng)

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體材料, 金屬材料, 聚合物材料, 陶瓷材料, 復(fù)合材料, 薄膜材料, 涂層材料, 生物材料, 納米材料, 光學(xué)材料, 磁性材料, 電子材料, 玻璃材料, 碳材料, 纖維材料, 橡膠材料, 塑料材料, 紙張材料, 木材材料, 石材材料

檢測(cè)方法

接觸模式AFM:探針與樣品表面直接接觸,通過(guò)測(cè)量探針的偏轉(zhuǎn)來(lái)獲取表面形貌信息。

非接觸模式AFM:探針在樣品表面上方振動(dòng),通過(guò)測(cè)量振動(dòng)頻率的變化來(lái)獲取表面形貌信息。

輕敲模式AFM:探針在樣品表面輕敲振動(dòng),通過(guò)測(cè)量振幅的變化來(lái)獲取表面形貌信息。

相位成像AFM:通過(guò)測(cè)量探針振動(dòng)的相位變化來(lái)獲取樣品表面的力學(xué)性質(zhì)信息。

力調(diào)制AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的相互作用力來(lái)獲取樣品表面的彈性模量信息。

磁力AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的磁力相互作用來(lái)獲取樣品表面的磁性信息。

靜電力AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的靜電力相互作用來(lái)獲取樣品表面的電荷分布信息。

熱導(dǎo)AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的熱導(dǎo)率來(lái)獲取樣品表面的熱學(xué)性質(zhì)信息。

納米壓痕AFM:通過(guò)測(cè)量探針在樣品表面的壓痕來(lái)獲取樣品表面的硬度信息。

摩擦力AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的摩擦力來(lái)獲取樣品表面的摩擦系數(shù)信息。

化學(xué)力AFM:通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的化學(xué)力相互作用來(lái)獲取樣品表面的化學(xué)性質(zhì)信息。

高頻振動(dòng)AFM:通過(guò)高頻振動(dòng)探針來(lái)獲取樣品表面的高頻響應(yīng)信息。

多頻AFM:通過(guò)多個(gè)頻率的振動(dòng)探針來(lái)獲取樣品表面的多頻響應(yīng)信息。

快速掃描AFM:通過(guò)快速掃描探針來(lái)獲取樣品表面的快速形貌變化信息。

環(huán)境控制AFM:通過(guò)控制環(huán)境條件(如溫度、濕度)來(lái)獲取樣品表面在不同環(huán)境下的形貌信息。

檢測(cè)儀器

原子力顯微鏡(AFM), 掃描探針顯微鏡(SPM), 接觸式輪廓儀, 非接觸式輪廓儀, 白光干涉儀, 激光共聚焦顯微鏡, 電子顯微鏡(SEM), 透射電子顯微鏡(TEM), X射線衍射儀(XRD), X射線光電子能譜儀(XPS), 拉曼光譜儀, 紅外光譜儀(FTIR), 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV-Vis), 納米壓痕儀, 表面粗糙度儀

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測(cè)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測(cè))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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