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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

信息概要

石墨化度行標(biāo)SJ/T檢測(cè)是針對(duì)石墨材料石墨化程度的專業(yè)檢測(cè)服務(wù)，主要用于評(píng)估石墨材料的結(jié)晶度、純度及性能指標(biāo)。該檢測(cè)對(duì)于確保石墨材料在鋰電池、電極、導(dǎo)熱材料等領(lǐng)域的應(yīng)用性能至關(guān)重要。通過(guò)檢測(cè)可以優(yōu)化生產(chǎn)工藝，提升產(chǎn)品質(zhì)量，滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求，同時(shí)為研發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

檢測(cè)項(xiàng)目

石墨化度, 結(jié)晶度, 碳含量, 灰分含量, 揮發(fā)分含量, 硫含量, 氮含量, 氧含量, 氫含量, 密度, 孔隙率, 比表面積, 電阻率, 導(dǎo)熱系數(shù), 抗壓強(qiáng)度, 抗折強(qiáng)度, 硬度, 熱膨脹系數(shù), 微觀形貌, 元素分析

檢測(cè)范圍

天然石墨, 人造石墨, 高純石墨, 膨脹石墨, 石墨烯, 石墨電極, 石墨負(fù)極材料, 石墨導(dǎo)熱片, 石墨密封材料, 石墨坩堝, 石墨模具, 石墨纖維, 石墨涂料, 石墨潤(rùn)滑劑, 石墨復(fù)合材料, 石墨散熱片, 石墨導(dǎo)電膜, 石墨粉體, 石墨塊體, 石墨薄膜

檢測(cè)方法

X射線衍射法(XRD)：用于測(cè)定石墨化度和結(jié)晶度。

熱重分析法(TGA)：測(cè)定灰分、揮發(fā)分和固定碳含量。

元素分析法：檢測(cè)碳、氫、氧、氮、硫等元素含量。

密度測(cè)定法：通過(guò)阿基米德原理測(cè)量石墨材料的密度。

比表面積分析(BET)：測(cè)定材料的比表面積和孔隙率。

電阻率測(cè)試：四探針?lè)y(cè)量石墨材料的電阻率。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試：熱流法或激光閃射法測(cè)定導(dǎo)熱性能。

力學(xué)性能測(cè)試：包括抗壓強(qiáng)度、抗折強(qiáng)度和硬度的測(cè)定。

熱膨脹系數(shù)測(cè)試：測(cè)定材料在溫度變化下的尺寸穩(wěn)定性。

掃描電子顯微鏡(SEM)：觀察材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。

紅外光譜法(FTIR)：分析材料中的官能團(tuán)和化學(xué)鍵。

拉曼光譜法：評(píng)估石墨材料的缺陷和有序度。

化學(xué)分析法：通過(guò)濕化學(xué)方法測(cè)定特定成分含量。

粒度分析：激光粒度儀測(cè)定石墨粉體的粒徑分布。

孔隙率測(cè)定：壓汞法或氣體吸附法測(cè)定材料的孔隙結(jié)構(gòu)。

檢測(cè)儀器

X射線衍射儀(XRD), 熱重分析儀(TGA), 元素分析儀, 密度測(cè)定儀, 比表面積分析儀(BET), 四探針電阻率測(cè)試儀, 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀, 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī), 硬度計(jì), 熱膨脹儀, 掃描電子顯微鏡(SEM), 紅外光譜儀(FTIR), 拉曼光譜儀, 激光粒度儀, 壓汞儀

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（石墨化度行標(biāo)SJ/T檢測(cè)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。