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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。

信息概要

隕石樣本同位素豐度（TIMS）檢測是通過熱電離質(zhì)譜技術(shù)對隕石中的同位素組成進(jìn)行精確分析的服務(wù)。該檢測能夠揭示隕石的起源、形成年代以及宇宙化學(xué)過程，對于研究太陽系演化、行星形成及地外物質(zhì)成分具有重要意義。檢測結(jié)果可為科研機(jī)構(gòu)、天文研究單位及收藏者提供可靠的數(shù)據(jù)支持，助力宇宙科學(xué)領(lǐng)域的突破性發(fā)現(xiàn)。

檢測項(xiàng)目

氧同位素比值, 碳同位素比值, 硫同位素比值, 氮同位素比值, 氫同位素比值, 鉛同位素比值, 鍶同位素比值, 釹同位素比值, 釤同位素比值, 銪同位素比值, 釓?fù)凰乇戎? 鏑同位素比值, 鉺同位素比值, 鐿同位素比值, 鈾同位素比值, 釷同位素比值, 鉀同位素比值, 鈣同位素比值, 鈦同位素比值, 鉻同位素比值

檢測范圍

球粒隕石, 無球粒隕石, 鐵隕石, 石鐵隕石, 碳質(zhì)球粒隕石, 普通球粒隕石, 頑輝石球粒隕石, 火星隕石, 月球隕石, 小行星隕石, 彗星塵埃隕石, 玻璃隕石, 微隕石, 隕石熔殼, 隕石基質(zhì), 隕石包體, 隕石金屬相, 隕石硅酸鹽相, 隕石硫化物相, 隕石氧化物相

檢測方法

熱電離質(zhì)譜法（TIMS）：通過高溫電離樣品中的同位素，利用磁場分離并測定其豐度。

氣體質(zhì)譜法：測定揮發(fā)性同位素組成，適用于輕元素分析。

激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜法（LA-ICP-MS）：微區(qū)同位素分析技術(shù)。

二次離子質(zhì)譜法（SIMS）：高空間分辨率同位素成像。

同位素稀釋法：通過添加已知同位素標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行定量分析。

多接收電感耦合等離子體質(zhì)譜法（MC-ICP-MS）：高精度同位素比值測定。

X射線熒光光譜法（XRF）：主量元素組成分析。

電子探針微區(qū)分析（EPMA）：微區(qū)元素分布測定。

中子活化分析（NAA）：痕量元素含量檢測。

傅里葉變換紅外光譜法（FTIR）：有機(jī)組分及礦物結(jié)構(gòu)分析。

拉曼光譜法：礦物相鑒定與分子結(jié)構(gòu)研究。

掃描電子顯微鏡（SEM）：表面形貌與元素分布觀察。

透射電子顯微鏡（TEM）：納米級礦物相分析。

熱重分析法（TGA）：揮發(fā)分與熱穩(wěn)定性測定。

X射線衍射法（XRD）：礦物相組成鑒定。

檢測儀器

熱電離質(zhì)譜儀（TIMS）, 氣體質(zhì)譜儀, 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）, 多接收電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（MC-ICP-MS）, 二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）, 激光剝蝕系統(tǒng)（LA）, X射線熒光光譜儀（XRF）, 電子探針微區(qū)分析儀（EPMA）, 中子活化分析儀（NAA）, 傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）, 拉曼光譜儀, 掃描電子顯微鏡（SEM）, 透射電子顯微鏡（TEM）, 熱重分析儀（TGA）, X射線衍射儀（XRD）

實(shí)驗(yàn)儀器

測試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（隕石樣本 同位素豐度（TIMS））還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。