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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

信息概要

石墨化度X射線衍射檢測(cè)是一種通過(guò)X射線衍射技術(shù)測(cè)定材料石墨化程度的分析方法。該檢測(cè)廣泛應(yīng)用于碳材料、石墨制品、電池負(fù)極材料等領(lǐng)域，能夠準(zhǔn)確評(píng)估材料的結(jié)晶度、層間距及石墨化水平。檢測(cè)的重要性在于其為材料性能優(yōu)化、質(zhì)量控制及研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐，尤其在新能源、電子器件和高溫材料等行業(yè)中具有不可替代的作用。

檢測(cè)項(xiàng)目

石墨化度, 結(jié)晶度, 層間距, 晶粒尺寸, 晶體結(jié)構(gòu), 衍射峰強(qiáng)度, 衍射角, 晶面指數(shù), 晶格常數(shù), 取向度, 缺陷密度, 微應(yīng)變, 晶體完整性, 石墨層數(shù), 無(wú)序度, 晶體對(duì)稱(chēng)性, 衍射峰半高寬, 晶體取向, 晶體生長(zhǎng)方向, 晶體缺陷類(lèi)型

檢測(cè)范圍

天然石墨, 人造石墨, 石墨烯, 碳纖維, 碳納米管, 石墨負(fù)極材料, 膨脹石墨, 高定向熱解石墨, 石墨塊, 石墨粉, 石墨電極, 石墨坩堝, 石墨散熱片, 石墨密封材料, 石墨潤(rùn)滑劑, 石墨復(fù)合材料, 石墨涂料, 石墨紙, 石墨薄膜, 石墨烯薄膜

檢測(cè)方法

X射線衍射法（XRD）：通過(guò)測(cè)量衍射峰位置和強(qiáng)度分析晶體結(jié)構(gòu)。

布拉格方程法：利用布拉格方程計(jì)算晶面間距和晶體參數(shù)。

謝樂(lè)公式法：通過(guò)衍射峰寬計(jì)算晶粒尺寸。

Rietveld精修法：對(duì)衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行全譜擬合，精確測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)。

小角X射線散射法（SAXS）：分析納米級(jí)晶體結(jié)構(gòu)和缺陷。

高分辨率X射線衍射法（HRXRD）：用于高精度晶體結(jié)構(gòu)分析。

掠入射X射線衍射法（GIXRD）：分析薄膜或表面晶體結(jié)構(gòu)。

X射線衍射成像法：結(jié)合成像技術(shù)觀察晶體分布。

原位X射線衍射法：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料在高溫或應(yīng)力下的結(jié)構(gòu)變化。

同步輻射X射線衍射法：利用同步輻射光源提高檢測(cè)靈敏度。

粉末X射線衍射法：適用于粉末樣品的晶體結(jié)構(gòu)分析。

單晶X射線衍射法：用于單晶樣品的精確結(jié)構(gòu)解析。

X射線衍射應(yīng)力分析：測(cè)定材料中的殘余應(yīng)力。

X射線衍射織構(gòu)分析：分析晶體取向分布。

X射線衍射相定量分析：測(cè)定混合物中各相的含量。

檢測(cè)儀器

X射線衍射儀, 高分辨率X射線衍射儀, 小角X射線散射儀, 同步輻射X射線衍射儀, 粉末X射線衍射儀, 單晶X射線衍射儀, 掠入射X射線衍射儀, X射線衍射成像系統(tǒng), 原位X射線衍射儀, X射線應(yīng)力分析儀, X射線織構(gòu)分析儀, X射線熒光光譜儀, X射線光電子能譜儀, X射線斷層掃描儀, X射線衍射探測(cè)器

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（石墨化度X射線衍射檢測(cè)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。