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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

X射線衍射（XRD）測試是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的非破壞性分析技術(shù)，通過測量材料對X射線的衍射圖譜，確定其晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格參數(shù)等信息。該技術(shù)對于材料研發(fā)、質(zhì)量控制、失效分析等具有重要意義，能夠幫助客戶準(zhǔn)確識別材料特性，優(yōu)化生產(chǎn)工藝，確保產(chǎn)品性能符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

檢測項目

物相定性分析，物相定量分析，晶粒尺寸計算，晶格常數(shù)測定，殘余應(yīng)力分析，結(jié)晶度測定，擇優(yōu)取向分析，微觀應(yīng)變分析，薄膜厚度測量，層狀結(jié)構(gòu)分析，晶體結(jié)構(gòu)解析，非晶態(tài)含量測定，高溫原位XRD分析，低溫原位XRD分析，晶體缺陷分析，多晶型鑒定，固溶體成分分析，晶體取向分布，晶界特性分析，材料純度評估

檢測范圍

金屬材料，陶瓷材料，聚合物材料，半導(dǎo)體材料，納米材料，催化劑，礦物，藥物，水泥，玻璃，涂料，電池材料，磁性材料，復(fù)合材料，陶瓷釉料，土壤，化石，寶石，合金，建筑材料

檢測方法

粉末X射線衍射法：通過分析粉末樣品的衍射圖譜確定物相組成和晶體結(jié)構(gòu)。

薄膜X射線衍射法：用于分析薄膜材料的晶體結(jié)構(gòu)和取向。

高分辨率X射線衍射法：提供更精確的晶格參數(shù)和晶體缺陷信息。

小角X射線散射法：用于分析納米尺度結(jié)構(gòu)特征。

原位X射線衍射法：在高溫、低溫或外加場條件下實時監(jiān)測材料結(jié)構(gòu)變化。

掠入射X射線衍射法：適用于表面和界面結(jié)構(gòu)的分析。

全譜擬合精修法：通過擬合整個衍射譜精修晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)。

殘余應(yīng)力測試法：測量材料內(nèi)部的殘余應(yīng)力分布。

織構(gòu)分析法：確定多晶材料的擇優(yōu)取向。

定量相分析法：確定混合物中各物相的含量。

非環(huán)境X射線衍射法：在特殊氣氛或壓力條件下進(jìn)行測試。

微區(qū)X射線衍射法：對微小區(qū)域進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析。

時間分辨X射線衍射法：研究材料結(jié)構(gòu)隨時間的變化。

同步輻射X射線衍射法：利用同步輻射光源進(jìn)行高亮度、高分辨率測試。

能量色散X射線衍射法：通過能量分辨探測器進(jìn)行快速測試。

檢測儀器

X射線衍射儀，高分辨率X射線衍射儀，薄膜X射線衍射儀，小角X射線散射儀，原位X射線衍射儀，同步輻射X射線衍射儀，微區(qū)X射線衍射儀，能量色散X射線衍射儀，多晶X射線衍射儀，單晶X射線衍射儀，便攜式X射線衍射儀，高溫X射線衍射儀，低溫X射線衍射儀，應(yīng)力分析X射線衍射儀，織構(gòu)測角儀

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（X射線衍射測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。