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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
俄歇電子譜氧化層深度實(shí)驗(yàn)是一種用于分析材料表面氧化層厚度及成分分布的高精度檢測技術(shù)。該技術(shù)通過俄歇電子能譜儀(AES)結(jié)合離子濺射,實(shí)現(xiàn)對材料表面納米級深度的逐層分析,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、金屬、陶瓷等材料的質(zhì)量控制與失效分析。檢測氧化層深度對確保材料性能、耐腐蝕性及界面穩(wěn)定性至關(guān)重要,尤其在微電子、航空航天等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價值。
氧化層厚度, 元素成分分布, 界面擴(kuò)散深度, 氧含量百分比, 碳污染檢測, 金屬價態(tài)分析, 表面粗糙度, 層間結(jié)合強(qiáng)度, 化學(xué)鍵合狀態(tài), 雜質(zhì)濃度, 濺射速率校準(zhǔn), 深度分辨率, 氧化態(tài)均勻性, 界面缺陷密度, 能譜峰形分析, 電子逃逸深度, 橫向分布均勻性, 氧化層致密性, 元素價態(tài)變化, 表面吸附物檢測
硅基半導(dǎo)體, 鋁合金氧化膜, 不銹鋼鈍化層, 鈦合金表面處理層, 銅導(dǎo)線氧化層, 鎳基高溫合金, 陶瓷涂層, 玻璃表面鍍膜, 聚合物改性層, 磁性材料保護(hù)層, 光伏電池鈍化層, 納米復(fù)合材料, 金屬有機(jī)框架材料, 電鍍層, 熱障涂層, 防腐涂層, 光學(xué)薄膜, 石墨烯復(fù)合層, 生物醫(yī)用涂層, 超導(dǎo)材料氧化層
俄歇電子能譜深度剖析(AES Depth Profiling):通過電子束激發(fā)與離子濺射聯(lián)用實(shí)現(xiàn)逐層分析
X射線光電子能譜(XPS):測定表面元素化學(xué)狀態(tài)及氧化程度
二次離子質(zhì)譜(SIMS):高靈敏度檢測痕量元素深度分布
橢圓偏振光譜(Ellipsometry):非接觸式測量透明薄膜厚度
掃描電子顯微鏡(SEM):觀察氧化層截面形貌
透射電子顯微鏡(TEM):原子尺度分析界面結(jié)構(gòu)
原子力顯微鏡(AFM):表面三維形貌與粗糙度測量
輝光放電光譜(GDOES):快速深度成分分析
盧瑟福背散射譜(RBS):定量測定輕元素深度分布
X射線反射(XRR):納米級薄膜密度與厚度測定
傅里葉變換紅外光譜(FTIR):化學(xué)鍵合狀態(tài)分析
激光共聚焦顯微鏡(CLSM):三維形貌重建
納米壓痕測試(Nanoindentation):力學(xué)性能梯度測量
俄歇電子顯微鏡(SAM):高空間分辨率成分成像
電子能量損失譜(EELS):界面化學(xué)狀態(tài)分析
俄歇電子能譜儀, X射線光電子能譜儀, 二次離子質(zhì)譜儀, 橢圓偏振儀, 場發(fā)射掃描電鏡, 透射電子顯微鏡, 原子力顯微鏡, 輝光放電光譜儀, 盧瑟福背散射分析儀, X射線反射儀, 傅里葉變換紅外光譜儀, 激光共聚焦顯微鏡, 納米壓痕儀, 俄歇電子顯微鏡, 電子能量損失譜儀
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺大型試驗(yàn)儀器,適用于各種材料的樣品,并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測試經(jīng)驗(yàn),無論是常規(guī)樣品還是科研樣品,都有定制化試驗(yàn)方案。
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣,主要包括:材料,能源,性能測試,醫(yī)藥領(lǐng)域,生物,動物,植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持,如果您對于報告有疑問或者對于試驗(yàn)有疑問,我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(俄歇電子譜氧化層深度實(shí)驗(yàn))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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