注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
磁電耦合系數(shù), 鐵電居里溫度, 鐵磁居里溫度, 介電常數(shù), 磁導率, 剩余極化強度, 剩余磁化強度, 矯頑場, 磁滯回線, 電滯回線, 壓電系數(shù), 磁致伸縮系數(shù), 電阻率, 介電損耗, 磁損耗, 熱膨脹系數(shù), 比熱容, 導熱系數(shù), 楊氏模量, 硬度
BiFeO3基材料, BaTiO3基材料, Pb(Zr,Ti)O3基材料, TbMnO3, YMnO3, LuFe2O4, GaFeO3, Ni3B7O13I, CuB2O4, CoCr2O4, MnWO4, LiCoPO4, LiNiPO4, LiMnPO4, LiFePO4, SrBi2Ta2O9, Pb(Mg1/3Nb2/3)O3, Pb(Fe1/2Nb1/2)O3, Pb(Fe1/2Ta1/2)O3, Pb(Sc1/2Ta1/2)O3
動態(tài)法磁電系數(shù)測量:通過交變磁場和電場激勵,測量材料的磁電響應。
靜態(tài)法磁電系數(shù)測量:在穩(wěn)態(tài)磁場和電場下,測定材料的極化或磁化變化。
SQUID磁強計法:利用超導量子干涉器件高精度測量材料的磁化強度。
PPMS綜合物性測量:在低溫強磁場條件下測試多種物理參數(shù)。
阻抗分析儀法:通過頻率掃描測量材料的介電性能和阻抗特性。
鐵電測試儀法:用于測定材料的電滯回線和鐵電性能。
振動樣品磁強計法:通過樣品振動測量其磁化強度。
X射線衍射法:分析材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組成。
掃描電子顯微鏡法:觀察材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)特征。
原子力顯微鏡法:在納米尺度表征材料的表面形貌和電學性能。
熱重分析法:測定材料在加熱過程中的質(zhì)量變化。
差示掃描量熱法:測量材料的熱容和相變溫度。
激光閃光法:測試材料的熱擴散系數(shù)和導熱性能。
納米壓痕法:測量材料的硬度和彈性模量。
四探針法:用于測定材料的電阻率。
磁電系數(shù)測量系統(tǒng), SQUID磁強計, PPMS綜合物性測量系統(tǒng), 阻抗分析儀, 鐵電測試儀, 振動樣品磁強計, X射線衍射儀, 掃描電子顯微鏡, 原子力顯微鏡, 熱重分析儀, 差示掃描量熱儀, 激光閃光導熱儀, 納米壓痕儀, 四探針電阻測試儀, 霍爾效應測量系統(tǒng)
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(多鐵性材料磁電系數(shù)檢測)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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