獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

檢測(cè)樣品：材料

檢測(cè)項(xiàng)目：電離輻射檢測(cè)

檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

AS/NZS 2161.8-2002職業(yè)防護(hù)手套 第8 部分:防電離輻射和放射性污染 (EN 421:1994)

ASTM E1614-1994(2004)遠(yuǎn)程光纖光譜和寬帶系統(tǒng)用硅基光纖和光纜致電離輻射感應(yīng)衰減的測(cè)量方法指南

ASTM E1654-1994(2004)遠(yuǎn)程拉曼光纖分光鏡檢查用光纖和光纜電離輻射感應(yīng)光譜變化的測(cè)量指南

ASTM F996-2011利用亞閥值電流-電壓特性將由于氧化物封閉孔和界面狀態(tài)引起的電離輻射感應(yīng)金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管閥值電壓漂移分離成若干分量的試驗(yàn)方法

ASTM F1467-2011半導(dǎo)體器件和微電路的電離輻射效應(yīng)試驗(yàn)中X射線測(cè)試儀(近似等于10keV輻射量子)的使用標(biāo)準(zhǔn)指南

BS 4094-1-1966電離輻射防護(hù)屏蔽數(shù)據(jù)推薦標(biāo)準(zhǔn).第1部分:γ輻射的防護(hù)屏蔽

BS 4094-1-1966(R2011)電離輻射防護(hù)屏蔽數(shù)據(jù)推薦標(biāo)準(zhǔn).第1部分:γ輻射的防護(hù)屏蔽

BS 4094-2-1971電離輻射防護(hù)屏蔽數(shù)據(jù)推薦標(biāo)準(zhǔn).第2部分:X 輻射的防護(hù)屏蔽

BS 4094-2-1971(R2011)電離輻射防護(hù)屏蔽數(shù)據(jù)推薦標(biāo)準(zhǔn).第2部分:X 輻射的防護(hù)屏蔽

BS 7811-2-1995確定電離輻射對(duì)絕緣材料影響的導(dǎo)則.第2部分:輻照和試驗(yàn)規(guī)程

BS EN 421-2010預(yù)防電離輻射和放射性污染的防護(hù)手套

BS EN 60544-4-2003測(cè)定電離輻射對(duì)絕緣材料的效應(yīng)的指南 第4部分:在輻射環(huán)境中工作的分類體系 替代BS 7811-4:1995

BS EN 60749-18-2003半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第18部分:電離輻射(全部劑量) 校正14531:2003年7月1日

BS IEC 60692-1999核儀器法.利用電離輻射的密度計(jì).定義和試驗(yàn)方法

BS IEC 61336-1996核儀器裝置.利用電離輻射的厚度測(cè)量系統(tǒng)的定義和試驗(yàn)方法

BS IEC 61336-1996(R2005)核儀器裝置.利用電離輻射的厚度測(cè)量系統(tǒng)的定義和試驗(yàn)方法

BS ISO 11929-4-2001電離輻射測(cè)量的檢測(cè)極限和判定閾的測(cè)定 第4部分:使用無(wú)樣品處理的線性標(biāo)度模擬定率計(jì)測(cè)量的基本原理和應(yīng)用

CEI 15-90-1997測(cè)定電離輻射對(duì)絕緣材料影響的指南.第2部分:輻射和試驗(yàn)程序.伯瑪·伊迪茲酮

CEI 45-17-1997利用電離輻射源的電氣測(cè)量系統(tǒng)和儀器

CEI 45-32-1997利用電離輻射的密度計(jì).定義和試驗(yàn)方法. Prima Edizione

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（電離輻射檢測(cè)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。